“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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鸿怡电子向您讲解关于射频IC测试座的知识 鸿怡电子通过与国内几大射频IC设计公司的多次密切合作，在射频IC测试座、测试治具方面经过多次的研发改良，已经能够满足很好的众多射频IC设计公司的需求，测试座可过高达25G的频率，测试性能稳定...
简述IC测试的分类 IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC 功能测试（Functional Test）, 化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation）， 可焊性测试（Solderbility Test）， 直流参数（电性能）测试...
鸿怡电子2018-2019年IC测试座产品目录 今年鸿怡电子在内容中添加了两个新项目。 第一个是用于BGA152 / 132 BGA63 TF卡/UDP卡的NAND闪存自动测试机台等。 第二个是FPC FFC线测试座和BTB连接器测试座。
为您的IC，找一款好的IC测试治具 我们鸿怡电子是从2001年开始专注IC测试治具的生产加工和定制，现在已经拥有17年的生产经验，20多名设计工程师，5台大型CNC精密加工设备。保证产品质量的同时可以更快速高效的出货！
为什么要定制IC测试座？ 深圳市鸿怡电子有限公司它是一站式芯片老化测试解决方案制造商。如果您想了解更多关于定制IC测试座/IC测试治具的信息，请联系我们
什么环节需要进行芯片测试工作？ 最终测试：也叫成品测试，是指芯片完成封装后，通过分选机和测试机配合使用，对集成电路进行功能和电参数性能测试，保证出厂的每颗集成电路的功能和性能指标能够达到设计规范要求。
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