“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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鸿怡电子告诉您，DDR测试治具在电子产品的应用 DDR是一种双倍速率同步动态随机存储器，广泛应用于计算机及其它电子产品上面。那么，DDR测试治具又是如何使用的呢？现在，鸿怡电子的产品工程师就为大家举例说明：
IC测试不稳定怎么办？ 通常客户在用ATE测试座做IC测试的时候，经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑...
晶振应用中常见问题及解决方法 使用我公司生产设计开模的可重复的贴片晶振测试座可大幅度的降低成本，经过不断的开发试验，我司已将治具制作标准化，提高治具的质量。晶振测试座中测试探针及相关材料的选用对测试治具的好坏及...
鸿怡电子向您讲解关于射频IC测试座的知识 鸿怡电子通过与国内几大射频IC设计公司的多次密切合作，在射频IC测试座、测试治具方面经过多次的研发改良，已经能够满足很好的众多射频IC设计公司的需求，测试座可过高达25G的频率，测试性能稳定...
简述IC测试的分类 IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC 功能测试（Functional Test）, 化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation）， 可焊性测试（Solderbility Test）， 直流参数（电性能）测试...
鸿怡电子2018-2019年IC测试座产品目录 今年鸿怡电子在内容中添加了两个新项目。 第一个是用于BGA152 / 132 BGA63 TF卡/UDP卡的NAND闪存自动测试机台等。 第二个是FPC FFC线测试座和BTB连接器测试座。
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