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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件编程烧录座

JFP8pin元器件编程烧录座规格参数：
芯片封装形式：JFP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：7.5mm
带转接板烧录座
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: SOP14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

SOP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
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: 定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
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: JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座

JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：JFP/OTS/SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5mm
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: SOP28pin-1.27mm-TP01NT开尔文老化测试座

SOP芯片开尔文老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：1.27mm
开尔文测试方式
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: 定制探测插针器件40PIN-1.27mm-22x22mm翻盖合金探针测试座

探测器件40pin测试座socket规格参数：
器件引脚：40pin
器件引脚间距：1.27mm
器件尺寸：22×22mm
接地：3pin
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: 定制LGA144pin-1.27mm-（15x15mm）合金旋钮探针老化测试座

LGA芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：15×15mm
厚度：2.82mm
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: 定制SIP25pin-1.27mm-15x15mm合金翻盖测试座

SIP25pin芯片测试座规格参数：
封装类型：SIP
引脚：25pin
引脚间距：1.27mm
尺寸：15×15mm
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: 定制电源芯片BGA77pin-1.27mm-9x15mm合金旋钮翻盖测试座

BGA芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：77pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：9×15mm
更多 +

: 定制BGA144pin-1.27mm-（16x16x5.01mm）合金旋钮探针测试座

BGA144pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：16*16mm
芯片厚度：5.01mm
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: SOP16pin-JFP16pin翻盖老化测试座

SOP16pin芯片翻盖老化座规格参数
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片本体尺寸：4.5mm
芯片含引脚尺寸：7.8mm
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: SOP16pin-1.27mm下压老化座

SOP16pin芯片老化座规格参数
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片本体尺寸：4.4mm
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: 定制邮票孔85PIN-1.27mm-1.02x0.4mm合金翻盖探针测试座

邮票孔85pin探针测试座规格参数
模块引脚：85pin
引脚间距：1.27mm
外形尺寸：44.98×32.79mm
厚度：2.2mm
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: WSON8/WLP8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座

DFN8pin转USB接口芯片测试座规格参数
芯片封装类型：DFN8/QFN8/WSON8通用
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：6×8mm
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: OTS-16-1.27（2.54）-04下压弹跳座老化夹具老炼治具测试烧录socket

特点：
采用双触点技术，接触稳定；
座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长
弹片采用进口铍铜材料，阻抗小、弹性号、寿命长
镀金层加厚，触点加厚电镀，接触稳定超低接触阻抗、抗氧化程度...
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: 定制BGA144-15x15合金旋钮翻盖测试座老化座高温老炼夹具测试socket

产品简介
①适配封装：BGA144，pitch1.27mm，尺寸15*15mm，厚度1.15mm。
②电气性能：频率600Mhz，电压小于5V，电流小于1A。
③使用环境温度：-55℃~155℃，85%rh，1000小时...
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: 定制22pin-1.27（本体30x30mm，含引脚30x42mm)碟形管壳模块测试座测试夹具治具socket

产品简介：蝶形金属管壳封装器件测试老化座
器件规格：22pin高速蝶形模块，间距1.27mm ，本体尺寸30*30mm
电气性能要求：老化温度150℃@3000小时。
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: SOP44-1.27 老化座夹具烧录座弹跳编程座转换DIP插座

OP44-1.27下压弹片老化座测试座烧录座
型号：SOP44-1.27下压式
脚位：44pin
间距：1.27mm
尺寸：28.2*16mm（525mil）；
芯片本体宽13.3mm（不含脚）
适用...
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: 定制SOP8-1.27合金旋钮双扣测试座（标准的小八脚）

产品名称：定制SOP8非标手自一体式探针测试socket
适配尺寸：适用封装SOP，8脚，间距1.27mm 本体宽3.9mm
产品介绍：手自一体的探针式结构，可用于自动机台的ATE测试
性能参...
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: FPC软排线通用快速测试夹金手指在线免拆测试夹子转接夹

产品特点及性能参数：
产品通用程度高，可适用于同间距不同PIN数的PFC软排线
目前可应用的间距为：0.25/0.3/0.5/0.6/0.65/0.8/1.0/1.27MM等
测试寿命可达20万次以上，是同类YOKOWO夹子寿命的10倍以上...
更多 +

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