WSON8/QFN8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座

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WSON8/WLP8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座

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WSON8/WLP8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座

DFN8pin转USB接口芯片测试座规格参数
芯片封装类型：DFN8/QFN8/WSON8通用
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：6×8mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的WSON8/WLP8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

NAND WSON8/WLP8/DFN8转USB接口测试座、转接座、编程座、烧录座

产品简介：

1、产品用途：编程座、测试座、转接座，对DFN8pin的IC芯片进行烧写、测试

2、适用封装：新款QFN8/DFN8/WSON8

3、特点：采用U型顶针，接触良率高，性能更稳定

4、测试座外壳采用特殊的工程塑胶，强度硬，使用寿命长（翻盖结构20000次）

DFN8转USB测试座

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DFN封装芯片测试座

DFN测试座

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芯片/器件封装形式:DFN
芯片引脚:8pin
引脚中心间距:1.27mm
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接触介质:探针
老化座结构:翻盖式-一拖四工位
老化座材料:PEI+PEEK

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芯片引脚:121pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:8*8mm
接触介质:探针
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:PEI+PEEK

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