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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: BGA25pin-1.27mm-6.25x6.25mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA25pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：25pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：6.25*6.25mm
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: LTM4644电源芯片BGA77pin-1.27mm-15x9mm塑胶翻盖老化测试座

LTM4644电源芯片BGA77pin老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
电源芯片封装形式：BGA
电源芯片引脚：77pin
电源芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：15*9mm
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: BGA144pin-1.27mm-15x15mm塑胶翻盖电源芯片老化测试座

BGA144pin电源芯片老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
电源芯片封装形式：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配电源芯片尺寸：15*15mm
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: TO252-5L-1.27（本体5.5x6.5mm)翻盖探针老化座

TO252-5L探针老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.27mm
适配尺寸：5.5*6.5mm
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: DFN8pin-1.27mm-5x6mm合金翻盖探针传感器芯片测试座

DFN8pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*6mm
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: 定制QFN64pin-1.27mm-24x24mm合金翻盖芯片测试座

QFN64pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：24*24mm
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: 定制LCC8pin-1.27mm-3x3mm一拖十六合金旋钮双扣测试座

LCC8pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：3*3mm
一拖十六工位
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: 定制BGA219pin-1.27mm-21.1x21.1mm塑胶旋钮翻盖测试座

BGA219pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：219pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：21.1*21.1mm
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: 定制LCC24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座

LCC24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：10*10mm
更多 +

: 定制BGA256pin-1.27mm-21x21mm合金旋钮探针老化座

BGA256pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：256pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：21*21mm
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: 定制变压器16pin-1.27mm-7.42x7.42mm塑胶翻盖测试座

变压器16pin测试座规格参数：
引脚：16pin
引脚间距：1.27mm
适配IC尺寸：7.42*7.42mm
用IC测试的方式制作
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: 定制LGA48(实际下针48+5）pin-1.27mm-16x23mm合金翻盖探针测试座

LGA48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：48pin，实际下针（48+5）53pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：16*23mm
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: 定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*5mm
一拖九工位测试座
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: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件老化测试座

JFP8pin元器件老化座规格参数：
元器件封装形式：JFP
元器件引脚：8pin
元器件引脚间距：1.27mm
适配元器件尺寸：7.5mm
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: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件编程烧录座

JFP8pin元器件编程烧录座规格参数：
芯片封装形式：JFP
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：7.5mm
带转接板烧录座
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: SOP14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

SOP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
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: 定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
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: JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座

JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：JFP/OTS/SOP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5mm
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: SOP28pin-1.27mm-TP01NT开尔文老化测试座

SOP芯片开尔文老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：1.27mm
开尔文测试方式
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: 定制探测插针器件40PIN-1.27mm-22x22mm翻盖合金探针测试座

探测器件40pin测试座socket规格参数：
器件引脚：40pin
器件引脚间距：1.27mm
器件尺寸：22×22mm
接地：3pin
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