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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制WLCSP36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座

WLCSP36pin晶振测试座规格参数：
晶振封装形式：WLCSP
晶振引脚：36pin
晶振引脚间距：0.4mm
适配晶振尺寸：2.487*2.541mm
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: 定制QFP144pin-0.4mm-18.22x18.22mm塑胶旋钮翻盖测试座

QFP144pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：16*16mm
芯片含引脚尺寸：18*18mm
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: 定制QFN40pin-0.4mm-4x6x0.85mm塑胶翻盖测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*6mm
芯片厚度：0.85mm
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: 定制QFP128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFP128pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFP
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
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: 定制QFN32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座

QFN芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.4mm
适用芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 新款QFN32pin-0.4mm-4X4mm芯片下压烧录座

QFN32pin芯片烧录座规格参数：
芯片封装：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚：0.4mm
适用芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: 定制DFN14pin-0.4mm-2X3mm合金翻盖测试座

DFN芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：2×3mm
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: 定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

QFN88pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：88pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：10×10mm
更多 +

: 定制QFN100pin-0.4mm-12x12mm合金旋钮探针测试座

QFN芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：12×12mm
更多 +

: 定制WLCSP10pin-0.4mm- 1.649x1.483mm塑胶翻盖探针测试座

WLCSP10pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：WLCSP
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：1.649*1.483mm
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: QFN64pin-0.4mm-8×8mm芯片下压老化座

QFN64pin芯片老化座规格尺寸
A、型号:QFN-64-0.4
B、引脚间距(mm):0.4、0.35、0.5mm
C、脚位:64pin
D、芯片尺寸:8*8mm、7*7mm
更多 +

: QFN60pin-0.4mm-8×8mm下压老化测试座

QFN60pin芯片老化座规格尺寸：
A、型号:QFN-60-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:60pin
D、芯片尺寸:8*8mm
对应国外型号790-61060-101T
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: QFN32pin-0.4mm-4*4mm下压弹片老化座

QFN32pin芯片老化座规格参数：
A、芯片封装型号:QFN
B、引脚间距(mm):0.4mm
C、脚位:32pin
D、芯片尺寸:4*4mm
E、对应国外型号790-62032-101T
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: QFN24pin-0.4mm-4×4mm下压老化座

QFN24pin芯片下压老化座规格参数：
A、型号:QFN-24-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:24
D、芯片尺寸:4*4mm
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: 定制QFN128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座

QFN128pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：14×14mm
更多 +

: 定制QFN21pin-0.4mm-3.8x3.4mm合金翻盖测试座

QFN21pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：3.8×33.4mm
芯片厚度：0.85mm
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: QFN16pin-0.4mm-3×3mm下压弹片老化座

QFN16pin芯片下压老化座规格参数芯片封装类型：QFN 芯片引脚：16pin 芯片引脚间距;0.4mm 芯片尺寸：3×3mm
更多 +

: 定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座

DFN6pin芯片探针老化座规格参数
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：1.1×0.7mm
更多 +

: 定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

QFN62pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：62pin
芯片引脚间距：支持0.4mm-0.425mm-0.45mm
芯片尺寸：12×12mm
芯片厚度：0.75mm
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: 定制QFN46pin-0.4mm-6.5x4.5mm合金翻盖测试座

QFN46pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：46pin
芯片尺寸：6.5×4.5
芯片厚度：0.75mm
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