定制QFN88pin探针老化测试座

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定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

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定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

QFN88pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：88pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：10×10mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN88pin芯片测试、老化、烧录用

产品介绍：

芯片测试频率：150Mhz

芯片老化测试温度：-40°~+125°，老化持续时长：1000小时

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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芯片/器件封装形式:DFN
芯片引脚:8pin
引脚中心间距:1.27mm
适配芯片尺寸:3.8*3.8mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式-一拖四工位
老化座材料:PEI+PEEK

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芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
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接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
老化座材料:合金+PEEK

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芯片引脚:121pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:8*8mm
接触介质:探针
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:PEI+PEEK

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