定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试夹老化座编程器烧录夹测试夹具

鸿怡测试座，终身技术支持保修

当前位置：首页 » 鸿怡电子产品中心 » 老化测试座 » QFN老化座 » 定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座详细信息/Detailed Information

定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

prevnext

查看全部大图

定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

QFN62pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：62pin
芯片引脚间距：支持0.4mm-0.425mm-0.45mm
芯片尺寸：12×12mm
芯片厚度：0.75mm

订购热线：13631538587

立即咨询

产品详情

深圳鸿怡电子生产定制的QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN芯片测试座、QFN芯片老化座、QFN芯片烧录座

QFN62pin芯片老化测试条件要求：

芯片测试频率：200Mhz

芯片测试电流：1A

芯片老化测试温度：130°，持续时长：500小时

芯片老化座结构：翻盖式

芯片老化座材料：合金

IC老化座

QFN芯片老化座

QFN老化座

QFN62pin芯片老化座

鸿怡电子 IC老化测试座芯片老化座 IC老化测试夹具治具 QFN老化座 QFN芯片测试座 QFN芯片烧录座 QFN老化板

采购：定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

*联系人：
*手机：
公司名称：
邮箱：
电话：
您是从哪里找到我们的：
*采购意向：
*验证码：

跟此产品相关的产品 / Related Products

: BGA121pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖芯片测试座; BGA121pin芯片测试夹具规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：121pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm

: QFN48pin-0.4mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座; QFN48pin芯片测试座socket规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：6*6mm

: 模块256pin-1.0mm-65x65mm合金旋钮翻盖测试座; 256pin模块测试座规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子—HMILU
模块引脚：256pin
模块引脚间距：1.0mm
适配模块尺寸：65*65mm

相关资讯

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

晶振老化座

DDR测试夹具

DDR内存颗粒解决方案

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板（Adapter)

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座（自动机台适用）

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

USB 测试转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880

座机：0755-83587595
邮箱：liu@hydz999.com
传真：0755-23287415
地址：深圳华强北中电B座三楼3010C

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



