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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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大小硬盘通用座,改硬盘SN好帮手
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BGA100翻盖探针转DIP48芯片测试座
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: BGA87-0.8（7×10）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA87脚，间距0.8，尺寸7*10mm的芯片；
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: BGA68-0.8（8×12）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA68脚，间距0.8，尺寸8*12mm的芯片；
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: BGA64-1.0（10×13）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA64脚，间距1.0，尺寸10*13mm的芯片；
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: BGA60-0.5（5×5）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA60脚，间距0.5，尺寸5*5mm的芯片；
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: BGA52-0.5（5×6）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA52脚，间距0.5，尺寸5*6mm的芯片；
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: BGA48-0.5（4×5）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；本款老化座，适配BGA48脚，间距0.5，尺寸4*5mm的芯片接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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: BGA34-0.5（4×6）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA34脚，间距0.5，尺寸4*6mm的芯片
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: BGA25-0.5（2×5）下压探针老化测试座

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: DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具

DDR3×8 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×8 78 Ball
2、频率F：超过1600Mhz
3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒
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: DDR3×16一拖四内存颗粒测试治具

DDR3×16 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×16 96 Ball pitch：0.8
2、频率F：超过2400Mhz
3、适用于：三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存...
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: SM2256K主控转BGA316合金翻盖一拖二测试治具

BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员...
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BGA272翻盖探针测试座安国主控U盘测试夹具Flash测试座接受定制
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定制集成电路测试插座LPDDR3 bga178适配器IC测试插座插座双锁翻盖结构分析测试插座
类型：LPDDR3 bga178
引脚数：178
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我公司专业定制各类BGA芯片测试治具，适合封装脚位有：BGA152、BGA137、BGA100、BGA96、BGA88等.. 结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、下压等接触方式：探针
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应用集成：QFP100芯片;
结构：翻盖式接触式：
POGOPIN定制：是的;
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QFN24-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座qfn适配器烧写座
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