BGA100翻盖探针转dip48芯片测试座|U盘Flash测试座

当前位置：首页 » 鸿怡电子产品中心 » U盘Flash测试座 » BGA100翻盖探针转dip48芯片测试座

BGA100翻盖探针转dip48芯片测试座详细信息/Detailed Information

prevnext

查看全部大图

BGA100翻盖探针转dip48芯片测试座

工厂直销，欢迎批发，质优价廉！
BGA100翻盖探针转DIP48芯片测试座
间距1.0mm，常规尺寸12×18mm、14*18mm，
大量现货，当天发！

订购热线：13631538587

产品详情产品参数产品型号测试座图纸常见问题公司资质

测试座特点：

1. 座头采用手动翻盖结构，操作灵敏。
2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。
3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。
4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。
5. 特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。
6. 探针：进口探针，铍铜镀硬金、铑。寿命8万次以上
7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。
8.高强度耐高温绝缘材料：330度。
9.成熟加工精度范围：跳距pitch=0.38mm。
10.交货周期：现货
现货BGA63/BGA107/BGA100/BGA137/BGA136/BGA149/BGA152/BGA199/BGA225测试座转成DIP48，同时可根据客
户的测试板制作BGA测试座，LGA测试座