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DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具详细信息/Detailed Information

DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具

DDR3×8 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格:
1、DDR3×8 78 Ball
2、频率F:超过1600Mhz
3、使用于:三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒
订购热线:13631538587
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DDR3×一拖四POGO PIN探针结构测试治具

规格:

1DDR3×8  78 Ball

2、频率F:超过1600Mhz

3、使用于:三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒

材料&特性

1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料

2、PCBA材料FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强

3、探针:

        材料:

             针管:磷铜

             针头:铍铜

             弹簧:琴钢丝

        电气性能:

        额定电流:1.5A

        接触阻抗:65-182 mohm(最大工作行程状态下)

        机械性能:

        压力:28g±20%(工作行程内)

        测试寿命:10 万次


采购:DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具

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