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定制LPDDR3 BGA178合金翻盖式芯片分析测试座详细信息/Detailed Information

定制LPDDR3 BGA178合金翻盖式芯片分析测试座

定制集成电路测试插座LPDDR3 bga178适配器IC测试插座插座双锁翻盖结构分析测试插座
类型:LPDDR3 bga178
引脚数:178
订购热线:13631538587
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DDR/GDDR测试解决方案


产品数据:

1、应用IC:LPDDR3 BGA178

2、材料:合金

3、结构:翻盖旋钮

4、接触方式:探针


产品特点:

1、无需客户lay板,直接采用客户提供的产品主板准确验证;

2、socket只需要四颗螺丝便可拆下,探针可以跟换维护简单方便;

3、分析板可以将需要分析的信号脚位拉出到转接板四周便于分析验证;

4、限位框可以更换,可满足于不同尺寸IC验证;

5、socket可以任意组合为一拖一、一拖二、一拖四,灵活测试;

6、产品交期大大缩短,最快四小时交货。



定制DDR测试夹具

LRDDR3测试治具

LRDDR3分析测试座

LRDDR3 BGA178测试治具

采购:定制LPDDR3 BGA178合金翻盖式芯片分析测试座

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