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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: DDR3-0.8 78pin老化插座球形引脚间距0.8mm DDR DIMM DRAM，用于DDR厂商测试DDR NAND芯片

老化座材料：PEI;
额定电流：1A
接触电阻：30m oh MAX.at 10mA和20mV MAX ...
测试寿命：15000次
引脚间距：0.8mm
工作温度：-55?175度
部件号：DDR3-0.8 78pin老化测试座
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: 客制品BGA一拖四测试治具

根据客户需求定制BGA一拖四或一拖二、一拖一测试治具
无需lay板，可直接装在客的PCB板上
可批量测试/烧录四颗BGA芯片,省时省力
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: DDR4*8导电胶内存条测试治具

专利结构，零磨损 ;
导电胶结构，不烧焊盘和IC；
过压力保护，导电胶寿命更长；
压力自适应，兼容不同厚度的颗粒；
限位框可更换，兼容不同大小的内存颗粒；
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: BGA152/132翻盖探针测试座

工厂新品热销，量大价优！全新设计，采用探针结构，测试座寿命和芯片良率大大提高;
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: 最新LCD+TP CONNECTOR微针模组测试座

定位精度高；
采用进口高性能探针，使用次数超过30万次，
采用探针接触，避免了因使用MATING CONNECTOR造成的CONNECTOR压伤和锡裂；
用进口材料，高精度设备加工，使夹具经久耐用，降低夹具的维护成本...
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: connector摄像头模组测试座

◆ 采用手动翻盖/手自一体，定位精确，操作方便
◆ 采用进口镀金探针和进口防静电材料（Torlon、PEI、 PPS、PEEK、FR4）
◆ 压板自动调节对IC的压力,保证下压力均匀:探针
自适应能力强,...
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: GDDR内存颗粒测试治具

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: 慧荣SM2258H转BGA316一拖二SSD测试治具

工厂直销慧荣SM2258H主控测试BGA316芯片，一块测试板+两个BGA316测试座。
封装种类齐全，性价比高！厂家直销！（此款免焊接，Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上）
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: 模块测试治具

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: PLCC68翻盖旋钮合金探针测试座

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: 定制BGA一拖四翻盖探针测试治具

产品数据：
1、应用Pitch：0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料：FP4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+CeramIC
3、适用封装：BGA/QFP/QFN/WSCP等
4、结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、Open-top 更多 +

: 气动试UDP一拖十六测试治具

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: FPC/Connector弹片微针模组测试治具

FPC/FFC的终端连接电路、组件等进行电气测试；
照相机的照相模块、马达模块的电气性能测试；
硬盘、软盘等磁头模块、马达模块的电气性能测试；
LCD/TFP（带FPC/FFP)等显示屏电气性能测试；
各类...
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: LPDDR2-220ball芯片测试治具

专业定制DDR/LPDDR芯片测试治具；
无需lay板，可直接将治具装在客户提供的PCB板上。测试芯片好坏，容量，省时省力；
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: DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具

DDR3×8 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×8 78 Ball
2、频率F：超过1600Mhz
3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒
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: DDR3×16一拖四内存颗粒测试治具

DDR3×16 一拖四POGO PIN探针结构测试治具
规格：
1、DDR3×16 96 Ball pitch：0.8
2、频率F：超过2400Mhz
3、适用于：三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存...
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: SM2256K主控转BGA316合金翻盖一拖二测试治具

BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进...
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: 定制LPDDR3 BGA178合金翻盖式芯片分析测试座

定制集成电路测试插座LPDDR3 bga178适配器IC测试插座插座双锁翻盖结构分析测试插座
类型：LPDDR3 bga178
引脚数：178
更多 +

: 专业定制BGA翻盖旋钮合金芯片测试座

我公司专业定制各类BGA芯片测试治具，适合封装脚位有：BGA152、BGA137、BGA100、BGA96、BGA88等.. 结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、下压等接触方式：探针
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: QFP100 IC测试治具POGOPIN接触式翻盖结构

应用集成：QFP100芯片;
结构：翻盖式接触式：
POGOPIN定制：是的;
manual或手动和自动作为一个整体，定位精确，操作方便，使用进口探针;
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