DDR3-0.8 78pin老化插座球形引脚间距0.8mm DDR DIMM DRAM，用于DDR厂商测试DDR NAND芯片|老化测试座

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DDR3-0.8 78pin老化插座球形引脚间距0.8mm DDR DIMM DRAM，用于DDR厂商测试DDR NAND芯片

老化座材料：PEI;
额定电流：1A
接触电阻：30m oh MAX.at 10mA和20mV MAX ...
测试寿命：15000次
引脚间距：0.8mm
工作温度：-55?175度
部件号：DDR3-0.8 78pin老化测试座

订购热线：13631538587

产品详情

规格：
a）DDR3-0.8 78pin老化测试座
b）工作温度：-55?175℃
c）适用于Sumsung，Hynix，华邦，美光等芯片
d）socket材料：PEI
e）额定电流：1A
f）接触电阻：30m oh MAX.at 10mA和20mV MAX（启动）

g）测试寿命：15000次

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DDR3-78PIN老化座

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