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WLCSP49-0.4间距
测试座
IC测试治具QFN/BGA49烧录座原厂定制
本款
测试座
适配WLCSP封装的49PIN芯片,PIN脚间距0.4mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订,欢迎有需要的客户咨询洽谈
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客制品-BGA676-1.0合金翻盖旋钮
测试座
厂家定制各类芯片的
测试座
、老化座
本产品适用于BGA封装的676球芯片,间距1.0mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订,欢迎有需要的客户咨询洽谈
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BGA63弹片老化座 bga63封装IC
测试座
数据恢复工具 BGA63
测试座
本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片
适配尺寸10.5mm*13.5mm\9mm*11mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BG...
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BGA137下压弹片
测试座
67pin 不带板座子 bga封装芯片
测试座
ANDK
本款下压老化座适配BGA封装137PIN的芯片,老化座实际下针62PIN
适配尺寸10.5mm*13mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、...
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MSOP8适配器SSOP8清空座IC
测试座
下压弹片老化座芯片烧写座编程器
一手货源!厂家直销:大量批发:100%全新Socket镀金双接触点弹跳座! MSOP10-0.5下压弹片烧录座、老化座 规格尺寸:引脚间距0.5mm,芯片本体(不含引脚)宽度3mm
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IC
测试座
下压弹片老化座QFN56(8*8)烧写座0.5间距双触点可定制
本款IC
测试座
适配QFN封装 56PIN 0.5mm间距 芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片,通孔焊接结构,适合批量烧录、老化使用。
更优的价格,更高的品质,新老客户均可放心选购
若...
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MSOP10适配器芯片
测试座
SSOP10清空座IC编程烧录座MSOP10转DIP10
一手货源!厂家直销:大量批发:100%全新Socket镀金双接触点弹跳座!
MSOP10-0.5下压弹片烧录座、老化座
规格尺寸:引脚间距0.5mm,芯片本体(不含引脚)宽度3mm
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IC芯片测试治具 3UA78IC模块烧录座 1.0间距定制各类封装测试夹具
客制品-根据客户提供模块参数,定制模块
测试座
18年定制
测试座
工厂
欢迎来图咨询定制
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QFN80-0.4
测试座
翻盖弹片老化座芯片镀金编程座IC549-0604适配器
1、型号:QFN-80-0.4
2、引脚间距(mm):0.4
3、脚位:80
4、芯片尺寸:9*9
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定制陶瓷封装SOP16合金翻盖
测试座
老化编程座 16PIN socket
定制各类陶瓷封装的CQFP、SOP芯片测试socket
本
测试座
适用于陶瓷封装的SOP16PIN 间距1.27mm的芯片
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TQFP32 烧录座 0.5引脚间距 FQFP32 QFP32转DIP32 编程座 烧写座
适用于QFP/LQFP/FQFP/TQFP封装的32脚芯片;
适配尺寸:7*7mm(不含引脚)间距0.5mm;
QFP32转DIP32,双层板底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽度15.2mm(600mil)
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QFN20 老化座 0.4间距 翻盖弹片
测试座
qfn20适配器 烧写座
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EMCP162/186一拖32自动机台
测试座
定制产品,适配emcp162/186 封装芯片 可设计任意一拖几结构;
自动测试socket
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QFN44-0.4 ATE
测试座
适用于自动机台测试烧录
定制产品,适配QFN44PIN, 0.4间距的QFN系列芯片
自动测试socket
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3215-2pin贴片晶振
测试座
一、型号: 3215(3.2*1.5mm)2PIN 二、脚位:2 三、芯片尺寸:3.2*1.5mm
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客制品-wifi模块
测试座
根据客户提供模块参数,定制模块
测试座
18年定制
测试座
工厂
欢迎来图咨询定制
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QFN32-0.5(5*5)下压弹片IC
测试座
工厂直售 欢迎采购 性价比高!
QFN32新结构下压弹片老化座,
QFN32 (5*5)-0.5下压老化座 ANDK自有品牌,
【0.5间距/不带板】
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eMMC153 eMMC169 ATE
测试座
BGA系列机器
测试座
新定制:是 产品描述:EMMC ATE
测试座
适用于自动机台测试
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DDR3-0.8 78pin老化插座球形引脚间距0.8mm DDR DIMM DRAM,用于DDR厂商测试DDR NAND芯片
老化座材料:PEI;
额定电流:1A
接触电阻:30m oh MAX.at 10mA和20mV MAX ...
测试寿命:15000次
引脚间距:0.8mm
工作温度:-55?175度
部件号:DDR3-0.8 78pin老化
测试座
一、产品用途:老化座、
测试座
,对5032(5.0*3.2)的IC芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振
三、探针结构,接触稳定、体积小。
四、采用特殊的工程塑...
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