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QFP128pin-0.4mm-16x16mm合金旋钮翻盖式探针芯片测试座

QFP128pin-0.4mm-16x16mm合金旋钮翻盖式探针芯片测试座

qfp芯片测试座产品特点及规格Socket本体:合金+PEEK探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+175*C机械寿命:大于15000次(机械测试)
商业航天级抗辐照MCU芯片LQFP144pin测试-<i style='color:red'>qfp芯片测试座</i>应用适配

商业航天级抗辐照MCU芯片LQFP144pin测试-qfp芯片测试座应用适配

LQFP144pin封装的商业航天级抗辐照MCU芯片,凭借其抗总剂量辐照、抗单粒子效应等核心优势,以及144个引脚带来的丰富外设扩展能力,在多个对可靠性要求严苛的领域实现深度应用,成为各行业高安全控制模块的核心“大脑”。