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: 定制QFN88-0.4(10×10)老化测试座socket

QFN老化夹具是QFN芯片burn-in老化测试专用工装，依靠Pogopin弹性探针与芯片底部焊盘可靠接触，实现稳定电气导通。可精准定位芯片、均匀控压，避免压伤焊盘；夹具采用特种工程塑胶PEEK制造，可以长期在-55℃~+155℃高低温环境下使用，配合老化箱施加高温与电应力，加速激发芯片潜在缺陷，筛选早期失效产品，支持多工位批量测试，广泛用于IC设计、封测、车载及工业芯片可靠性验证。销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

: 定制QFN132芯片HTOL老化座socket

QFN老化夹具是QFN芯片burn-in老化测试专用工装，依靠Pogopin弹性探针与芯片底部焊盘可靠接触，实现稳定电气导通。可精准定位芯片、均匀控压，避免压伤焊盘；夹具采用特种工程塑胶PEEK制造，可以长期在-55℃~+155℃高低温环境下使用，配合老化箱施加高温与电应力，加速激发芯片潜在缺陷，筛选早期失效产品，支持多工位批量测试，广泛用于IC设计、封测、车载及工业芯片可靠性验证。销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

: 定制LCC10-2.54（5x7）burn-in Socket

LCC10封装老化座：封装：LCC10间距：2.54mm尺寸：5.0*7.0mm老化温度：-45℃~+125℃老化寿命：＞5000小时socket材质：PEI+PEEK接触pin：pogoPIN销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

: 定制LGA144-0.7自动化FT测试座socket

LGA144测试座的常见应用场景1.功能/电参数测试：实验室样品验证、产线成品分选，筛选功能不良芯片；2.IC烧录：搭配烧录板，给LGA144芯片写入固件程序；3.老化测试（burn-in座）：耐高温版本，在高低温环境长时间通电，加速暴露芯片早期缺陷，验证长期可靠性（车规/工业芯片常用）。销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

: 定制LCC16-0.65(5.5x6)HTOL老化座socket

芯片老化座（也叫老化测试座、burn-inSocket），是芯片老化测试工序专用的连接器，主要用于半导体可靠性筛选。 LCC封装芯片老化座作用简介LCC（无引脚陶瓷芯片载体）老化座，也叫LCC老炼插座，是专门适配LCC无引脚封装芯片的老化测试专用Socket，放置在老化板上，是芯片HTOL高温工作寿命、加速老化筛选的核心接口夹具。销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

: 定制DFN14-80工位老化板-HAST试验

老化座特性：定制探针式，接触稳定寿命高，易维修。HAST寿命：+130℃@85%RH，≥500小时支持定制：BGA,QFN,DFN,LGA,QFP,SOP.TO,SMD等器件封装应用于HTOL,LTOL,HAST,HTRB,HTGB,H3TRB.大功率老化等各种Bun-in场景老化测试板-(burn-inBoard)助力企业降本增效提高产品测试良率销售工程师：黄小二13622364332（vx同号）邮箱huang@hydz999.com

: 定制SOT/TO220-3L-HTOL老化试验板

适用于TO‑220老化板，多用于MOS管、三极管、稳压管等功率分立器件高温老化筛选。板上排布多只TO‑220老化测试座（Socket），批量安装TO‑220封装功率器件；提供电源、偏置电压、负载回路，给待测管子施加规定电压、电流应力。配合高温老化箱，在高温（通常100‑150℃）环境下长时间通电加载应力，加速激发芯片内部缺陷：栅氧缺陷、晶圆瑕疵、封装漏电、键合不良等，把“早期容易坏”的器件提前测坏筛掉，符合浴盆曲线筛选逻辑。支持定制各种IC/芯片封装的HTRB\HTGB\H3TRB\HAST\IOL老化板(burn-inBoard)。销售工程师：黄小二13622364332(VX同步)，huang@hydz999.com

: 定制TO247-4L-80工位HAST老化板

适用于BGA,QFN,DFN,LGA,QFP,SOP.TO,SMD等器件封装应用于HTOL,LTOL,HAST,HTRB,HTGB,H3TRB.大功率老化等各种Bun-in场景SiCMOSFET功率单管老化测试板-(burn-inBoard)HTRB/HTGB/H3TRB老化板支持定制各种IC/芯片封装的HTRB\HTGB\H3TRB\HAST\IOL老化板助力企业降本增效提高产品测试良率

: QFP64pin-0.5mm-40工位HAST老化板

适用于BGA,QFN,DFN,LGA,QFP,SOP.TO,SMD等器件封装应用于HTOL,LTOL,HAST,HTRB,HTGB,H3TRB.大功率老化等各种Bun-in场景SiCMOSFET功率单管老化测试板-(burn-inBoard)HTRB/HTGB/H3TRB老化板支持定制各种IC/芯片封装的HTRB\HTGB\H3TRB\HAST\IOL老化板助力企业降本增效提高产品测试良率

: QFP64pin-0.5mm-80工位HTOL老化板

适用于BGA,QFN,DFN,LGA,QFP,SOP.TO,SMD等器件封装应用于HTOL,LTOL,HAST,HTRB,HTGB,H3TRB.大功率老化等各种Bun-in场景SiCMOSFET功率单管老化测试板-(burn-inBoard)HTRB/HTGB/H3TRB老化板支持定制各种IC/芯片封装的HTRB\HTGB\H3TRB\HAST\IOL老化板助力企业降本增效提高产品测试良率

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