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: 从测试类型倒推设计:鸿怡电子ic测试座在材料、结构与接触介质上的取舍逻辑

IC测试座的选型，本质上是在"封装几何—电气性能—环境应力—成本寿命"之间做多维度的权衡，而不是简单地找一个能插进去的连接器。测试类型决定了设计的方向，测试条件决定了参数的边界。把这两层关系理顺，再去看材料、结构与接触介质的组合，选择往往就变得清晰了。

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