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脑机模块测试socket

模块测试座

脑机管壳测试座

脑机器件测试夹具

脑机测试夹具

定制模块64+12pin-1.0合金旋钮翻盖测试座

 定制定制模块64+12pin-1.0合金旋钮翻盖测试座产品特点:
顶部下针+底部下针,信号同步引出。
可做高频率测试:最高频率30GHz
定位精准度高:CNC精加工工艺公差一个丝
使用寿命长:机械寿命可达10万+次
稳定性高:外壳采用LA6061材料,表面阳极硬氧绝缘。
使用环境温度:-55℃~+155℃。
可维护性高:采用模块化设计,全配件可单独更换。
可标准化:产品设计周期短,交货速度快。

项目工程师:13823541217  张工

服务热线: 13631538587
鸿怡电子生产定制模块64+12pin-1.0合金旋钮翻盖测试座socket产品介绍

异形管壳封装测试座产品参数

封装类型:通讯模块
引脚位数:64+12pin
中心间距:1.0mm
模块测试座产品特点
1、 采用双扣锁紧式结构,兼容人工或ATE自动化使用;
2、上盖压板仅压合管脚平整的边缘,不接触管壳本体,下压平稳,压力均匀,不移位;
3、探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
4、高精度的定位槽,保IC定位以及焊盘精确导通;
5、采用浮板结构设计,装取芯片时保护器件压合风险。
6、镀金探针材料,导电性能稳定,抗氧化强,使用周期长。
7、探针可更换,维修方便,成本低
8、核心部件采用PEEK工程塑胶板加工成型,针孔光滑不卡顿,绝缘电阻高;
9、最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离);

产品优势:

  • 全功能集成:稳定通讯、精准定位一体化设计,简化测试流程
  • 高精度测试:稳定的电气连接与光学对准,确保测试数据准确性与重复性
  • 模块保护:零插拔力设计 + ESD 保护,避免测试过程中模块损坏,降低测试成本
  • 高效测试:快速插拔 + 多通道设计,适配自动化生产线,大幅提升测试效率
  • 灵活适配:支持定制不同规格管壳模块封装,可更换组件适配不同型号,提高设备利用率


  •  定制模块64+12pin-1.0封装图纸

    芯片

     定制模块64+12pin-1.0合金旋钮翻盖测试座socket 图纸

    测试座

     定制模块64+12pin-1.0合金旋钮翻盖测试座socket 产品展示
    • resource/images/ff454a106ef847abb3bfab601b1784ec_20.jpg
      通讯管壳测试座
    • resource/images/ff454a106ef847abb3bfab601b1784ec_22.jpg
      异形管壳测试夹具
    • resource/images/ff454a106ef847abb3bfab601b1784ec_24.jpg
      双面通讯模块测试座
    • resource/images/ff454a106ef847abb3bfab601b1784ec_26.jpg
      接口模块测试socket
    • resource/images/ff454a106ef847abb3bfab601b1784ec_28.jpg
      非标封装芯片测试座









    resource/images/ff454a106ef847abb3bfab601b1784ec_30.jpg

    模块测试座

    采购: 定制模块64+12pin-1.0合金旋钮翻盖测试座
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    0755-83587595