了解我们的新闻与动态

热搜关键词: 老化板定制 BGA测试座 芯片老化板 IC测试座定制

鸿怡HMILU-图像传感器PGA芯片测试座的关键应用

来源: | 发布日期:2025-09-09

在芯片测试领域,芯片测试座(Socket)与测试夹具的稳定性、效率和精度直接关系到产品的良率及生产成本。作为国内领先的半导体测试解决方案供应商,鸿怡电子HMILU凭借其创新的技术实力和多年的行业经验,生产定制的PGA454pin双扣式手自一体测试座(以下简称“HMILU PGA测试座”)在市场上广受好评。这款产品不仅适用于高端芯片的研发验证,还能满足量产环境中的严苛需求。

PGA454pin芯片测试座图纸

一、精准可靠:PGA芯片测试座的核心设计

PGA(Pin Grid Array)封装芯片

因其高密度引脚布局,对测试座的接触稳定性和耐久性提出了极高要求。传统的测试夹具往往存在接触阻抗波动、插拔寿命短等问题,而鸿怡电子HMILU的PGA454pin测试座通过以下设计解决了这些痛点:

1. 双扣式锁紧结构

采用独特的双扣式机械锁紧设计,通过上下双重锁定机制,确保芯片引脚与测试座触点之间的紧密连接。这一设计不仅提升了测试稳定性,还能有效避免因振动或温度变化导致的接触不良,尤其适合高频、高压测试场景。

2. 高精度触点技术

测试座内部触点选用铍铜合金材质,配合镀金工艺,接触阻抗可长期稳定在5mΩ以下。针对PGA芯片的454pin高密度布局,鸿怡电子通过精密数控加工与光学对位技术,将触点位置误差控制在±10μm以内,显著降低误测率。

3. 宽温域适应性

支持-40℃至150℃的极端温度测试,满足汽车电子、航空航天等领域对芯片可靠性验证的需求。

芯片测试夹具-1

二、高效灵活:手自一体操作与模块化设计

在半导体测试环节,效率与灵活性是客户关注的核心指标。鸿怡电子HMILU的PGA芯片测试座通过“手自一体”操作模式和模块化设计,大幅缩短测试周期并降低综合成本。

1. 手自一体无缝切换

测试座支持手动与自动模式自由切换。手动模式便于研发人员快速调试,自动模式则可无缝对接自动化测试设备(ATE),实现批量测试。这一功能避免了传统测试夹具因更换设备导致的停机时间,尤其适合多品种、小批量的芯片验证场景。

2. 模块化快速更换

测试座采用分体式结构,适配器(Adapter)与基座可独立拆卸。当需要测试不同型号的PGA芯片时,仅需更换适配器模块,无需重新购置整套夹具,为客户节省90%以上的硬件更换成本。

3. 长寿命与易维护性

通过优化插拔机构与触点保护设计,测试座的插拔寿命高达20万次以上。同时,鸿怡电子提供标准化维护工具包,用户可自行清洁触点或更换磨损部件,显著降低运维成本。

PGA芯片测试夹具-1

三、行业场景深度适配:从研发到量产的全程赋能

鸿怡电子HMILU的PGA芯片测试座凭借其多功能性,已广泛应用于通信、人工智能、汽车电子等领域。以下是其典型应用场景:

芯片研发验证:支持高频信号完整性测试(如PCIe 5.0、DDR5),帮助研发团队快速定位设计缺陷。

量产测试:通过与ATE设备的兼容性优化,可实现每分钟50片以上的测试效率,助力客户提升产能。

老化与可靠性测试:耐高温、耐腐蚀的设计特性,满足长达1000小时的老化试验要求。

鸿怡电子还提供配套的**PGA芯片测试夹具**,可根据客户需求定制探针布局、散热方案及信号屏蔽设计,进一步扩展测试场景的适配性。

四、技术赋能与服务优势

鸿怡电子HMILU的核心竞争力不仅体现在产品设计上,更在于其全生命周期的服务体系:

快速响应机制:72小时内提供适配器定制服务,支持客户紧急需求。

数据驱动优化:基于客户实际测试数据,持续迭代触点材料与结构设计。

全球技术支持网络:在深圳、上海、新加坡等地设立服务中心,提供本地化技术培训与故障诊断。

PGA芯片测试座-1

在IC/芯片测试行业,一款优秀的测试座需要在精度、效率和成本之间找到平衡点。鸿怡电子HMILU的PGA454pin双扣式手自一体测试座凭借其创新的双扣锁定结构、手自一体操作模式及模块化设计,成功解决了高密度PGA芯片测试中的诸多难题。无论是前沿芯片研发,还是大规模量产,鸿怡电子的解决方案都在为全球客户提供可靠的技术赋能。

最新资讯