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UFS153-0.5_11.5×13翻盖转USB3.0测试座(SM3350M主控)详细信息/Detailed Information

UFS153-0.5_11.5×13翻盖转USB3.0测试座(SM3350M主控)

产品名称:三星ufs2.0芯片测试座
引脚数:153/169ball
间距:0.5
封装类型BGA
支持eMMC 5.0及以上;支持UFS 2.1版本;USB3.0,支持热插拔;eMMC, eMCP和UFS数据的快速读写,擦除
订购热线:13631538587
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关于鸿怡电子:

鸿怡电子生产UFS153-0.5_11.5×13翻盖转USB3.0测试座(SM3350M主控),同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

产品介绍:

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  • 适用于三星、海力士、闪迪、东芝、英特尔、金士顿等eMMC、eMCP、UFS芯片;

  • 基于芯片设计的快速读写;

  • 支持eMMC5.0及以上版本;

  • 支持UFS2.1版本;

  • 支持热插拔,可以通过USB接口直接连接到PC;

  • eMMC,eMCP和UFS芯片实时数据读写、存储;

  • USB3.0版本

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机械性能

测试座材料: PPS/PEEK 陶瓷

座头材料:  AL,POM

探针类型:       弹簧探针

工作温度:  -40 ~ 140度

探针寿命:        5万次

弹簧弹力:  20g~30g  per Pin


电性能

额定电流:  1.5A

自       感:       1.57nH 

带宽@-1dB:      10GHz

DC电阻:         <100毫欧@0.65mm

UFS芯片测试座

BGA153芯片测试座

BAG测试座

UFS153封装芯片测试座


采购:UFS153-0.5_11.5×13翻盖转USB3.0测试座(SM3350M主控)

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