鸿怡电子生产定制的QFN32pin-0.5mm-5×5mm翻盖式晶振测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN32pin晶振测试环境:老化、测试、烧录
QFN32pin晶振测试座产品简介:
晶振测试电流:600mA
晶振测试品频率:3Ghz
测试温度范围:-45°~+125°
晶振测试座结构:翻盖式
晶振测试座材料:塑胶