鸿怡电子生产定制的QFN20pin-0.65mm-5X5mm开尔文合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN20pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
QFN20pin芯片测试座产品简介:开尔文测试
芯片测试电流:300mA
芯片测试温度:-45°~+155°
芯片测试频率:200Mhz
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金