QFN16pin-0.5mm-4x4mm合金翻盖探针芯片老化座

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QFN16pin-0.5mm-4x4mm合金翻盖探针芯片老化座

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QFN16pin-0.5mm-4x4mm合金翻盖探针芯片老化座

QFN16pin芯片测试座socket规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN16pin-0.5mm-4x4mm合金翻盖探针芯片老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN16pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN16pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：5000Mhz

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：-45° ~+125mm

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试socket夹具材料：合金

IC测试座

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芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

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封装形式:蝶形管壳
模块引脚:44pin
模块引脚间距:0.8mm
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接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

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芯片引脚：42pin
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适配芯片尺寸：2.633*3.184mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK

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