深圳鸿怡电子生产定制的LCC36pin合金翻盖式探针芯片测试座socket

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LCC36pin合金翻盖式探针芯片测试座socket—LCC模块测试夹具

LCC36pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：36pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：9*9mm
接触介质：探针
测试座材料：合金+PEEK
测试座结构：翻盖式

订购热线：13631538587

产品详情

鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket
和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,

针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制.

深圳鸿怡电子生产定制的LCC36pin合金翻盖式探针芯片测试座socket—LCC模块测试夹具厂家

产品介绍：
产品名称:LCC36pin合金翻盖式探针芯片测试座socket
使用用途：对LCC 36pin芯片进行模拟电路测试,性能测试用,支持芯片功能性测试,芯片可靠性测试
性能参数：温度-55-85度,要求高低温下测试信号的致性一定要好,频率小于500MHZ,电流小于1A。
产品特点：
测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

IC测试座

芯片测试socket

LCC芯片测试座

LCC模块测试座

深圳鸿怡电子 LCC36pin合金翻盖式探针芯片测试座socket—LCC模块测试夹具厂家

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芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
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接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

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封装形式:蝶形管壳
模块引脚:44pin
模块引脚间距:0.8mm
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接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

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芯片引脚：42pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2.633*3.184mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK