您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座,终身技术支持保修
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » IC测试治具 » 鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座

鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座详细信息/Detailed Information

鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座

1 结构全新设计,相比于之前的旧式结构造型美观,携带轻巧方便;
2 采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效率高;
3 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高;
4 专利设计,保证连接稳定可靠;
5 采用进口探针和防静电材料制作;
6 绝缘材料:FR4;
7 最新可做到测试间距pitch=0.3mm;
8 可根据客户不同类型PCBA产品定制各种芯片测试治具;
9 交货快:最快一天内交货。
订购热线:13631538587
立即咨询
产品参数 /Parameter
product_btnx

材料组成 额定功率 机械性能
Socket本体:PPS工程塑料(耐磨性、抗干扰性信强)
针管:磷铜
针头:铍铜
弹簧:琴钢丝
额定电流:0.5A
接触阻抗:100mohm
温度范围:常温测试
测试寿命:10万次

采购:鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

CQFP64pin-1.0mm-18.4x18.4mm塑胶翻盖旋钮探针芯片老化座
CQFP64pin-1.0mm-18.4x18.4mm塑胶翻盖旋钮探针芯片老化座
CQFP64pin芯片老化测试座socket规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:CQFP
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:18.4*18.4mm
模块20pin-2.5mm-28x28mm合金翻盖测试座socket
模块20pin-2.5mm-28x28mm合金翻盖测试座socket
模块20pin测试座socket规格参数:
生产品牌:HMILU
模块引脚:20pin
模块引脚间距:2.5mm
适配模块尺寸:28*28mm
PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座
PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座
LCC28pin芯片测试座socket规格参数:
生产品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:28pin
芯片引脚间距:0.6mm
适配芯片尺寸:6.5*6.5mm

相关资讯

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳华强北中电B座三楼3010C