SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座

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定制SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座

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定制SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座

SMD4pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：SMD
芯片引脚间距：3.8mm
适配芯片尺寸：7.55*7.55mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用SMD4pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

SMD4pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：500Mhz

芯片测试电流脉冲：≤10A，测试时长：1分钟

芯片测试温度：-45°~+125°

SMD芯片测试座结构：翻盖式

SMD芯片测试座材料：合金

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芯片引脚间距:0.5mm
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接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
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接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK

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