鸿怡电子生产定制的QFN80pin-0.35mm-8x8mm合金翻盖探针芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN80pin芯片测试环境:老化、测试、编程烧录
QFN80pin芯片老化测试座产品简介:
芯片测试电流:800mA
芯片测试频率:3Ghz
芯片测试温度:-45°~+175°
芯片测试座结构:旋钮翻盖式
芯片测试座材料:合金