鸿怡电子生产定制的QFN40pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN40pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,可用于QFN芯片HAST高温高湿测试/HTOL测试
QFN40pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:300Mhz
芯片测试电流:100mA
芯片测试座温度:-45°~+125°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金