QFN24pin-0.45mm-4X4mm芯片测试夹具,QFN封装塑胶翻盖老炼测试座

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QFN芯片老炼测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.45mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
芯片老化座结构：翻盖式
芯片测试座材料：PEI

订购热线：13631538587

产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN24pin-0.45mm-4X4mm芯片测试夹具,QFN封装塑胶翻盖老炼测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试，芯片功能性测试

QFN24pin芯片老化测试座产品简介：

该款老炼座支持QFN芯片HAST测试、HTOL测试

芯片HTOL测试：+125°，单次满足2000h

芯片HAST测试：+130°，85%湿度，单次老化时长：190h

芯片测试电流：整体过流1A以内

IC老化测试座

芯片老化测试解决方案

QFN芯片老炼测试夹具

IC老炼测试夹具

: LCC96pin-0.5mm合金翻盖式探针芯片测试座socket; LCC96pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: 蝶形模块44pin-0.8mm-25x24mm测试座socket; 蝶形模块44pin测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
封装形式:蝶形管壳
模块引脚:44pin
模块引脚间距:0.8mm
适配尺寸:25*24mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: WLCSP42pin-0.4mm塑胶翻盖式晶圆级芯片探针测试座socket; WLCSP42pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：42pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2.633*3.184mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK