LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具

当前位置：首页 » 鸿怡电子产品中心 » 精密定制IC测试座 » 定制LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具

定制LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具详细信息/Detailed Information

prevnext

查看全部大图

定制LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具

LGA8pin芯片老化测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.0
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
老化座结构：翻盖式
老化座材料：PEI
一拖四工位

订购热线：13631538587

产品详情

鸿怡电子研发、生产各类封装的半导体芯片测试座，老化座，测试夹具治具，集成电路IC的Burn-in-Socket
和Test-Socket产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等，
有开模和机加定制二种。针对非标类及特殊要求的测试座/测试治具，更可一件起定制。

鸿怡电子生产定制的LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

适用LGA8pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试

LGA8pin芯片老炼测试夹具产品简介：

芯片测试电流：500mA

芯片测试频率：150Mhz

芯片老化测试温度：-45°~+135°，单次时长：96小时，总时长5000小时

IC老炼夹具

LGA芯片老炼测试夹具

LGA芯片老化测试socket

IC老炼座

深圳鸿怡电子 LGA芯片测试座 LGA芯片老化座 LGA芯片烧录座 LGA芯片测试治具 LGA芯片测试socket

采购：定制LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具

*联系人：
*手机：
公司名称：
邮箱：
电话：
您是从哪里找到我们的：
*采购意向：
*验证码：

跟此产品相关的产品 / Related Products

: LCC96pin-0.5mm合金翻盖式探针芯片测试座socket; LCC96pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: 蝶形模块44pin-0.8mm-25x24mm测试座socket; 蝶形模块44pin测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
封装形式:蝶形管壳
模块引脚:44pin
模块引脚间距:0.8mm
适配尺寸:25*24mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: WLCSP42pin-0.4mm塑胶翻盖式晶圆级芯片探针测试座socket; WLCSP42pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：42pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2.633*3.184mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK