鸿怡电子生产定制的LGA124pin芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于芯片HAST/HTOL老化测试
LGA124pin芯片老化测试条件要求:
芯片老化测试温度:125°,持续老化时长:1000小时
芯片测试电流:1A
芯片老化测试湿度:85%
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金