鸿怡电子生产定制的DDR3-84pin-0.5mm-11.5 x7.5mm合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于DDR3-BGA84pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
DDR3-BGA84pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:300Mhz
芯片测试电流:800mA
芯片测试温度:-40°~+85°
PCIE GEN3测试频率:4Ghz
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金