鸿怡电子生产定制的BGA28pin-0.35mm-2.734x1.656mm合金下压式芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用BGA28pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片HAST/HTOL测试,自动化测试
BGA28pin芯片老化座产品简介:
芯片测试温度:-55°~+155°,持续1000小时
芯片测试频率:80mhz
芯片测试电流:500mA
芯片测试座结构:下压式
芯片测试座材料:合金