鸿怡电子生产定制的BGA200pin-0.65mm-10x14.5mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
BGA芯片测试座、BGA芯片老化座、BGA芯片烧录座
BGA200pin芯片(LPDDR4芯片)测试条件要求:
需要跑3200Gbps全告诉测试
芯片测试频率:1666Mhz
芯片测试电流、温度:无需求
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金