鸿怡电子生产定制的BGA169pin-0.5mm-7x7mm芯片合金旋钮翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用BGA169pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
BGA169pin芯片测试座产品简介:
芯片测试温度:-55°~+125°,老化测试时长:1000小时
有射频测试需求:射频探针标称阻抗:50Ω
绝缘电阻:1000MΩ
介质耐压:≥500Vrms
芯片测试电流:≥500mA
支持被测IP功耗:≥4W
芯片测试频率:10G
芯片测试座结构:旋钮翻盖式
芯片测试座材料:合金