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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: QFN80-0.4测试座翻盖弹片老化座芯片镀金编程座IC549-0604适配器

1、型号:QFN-80-0.4
2、引脚间距(mm):0.4
3、脚位:80
4、芯片尺寸:9*9
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: 定制陶瓷封装SOP16合金翻盖测试座老化编程座 16PIN socket

定制各类陶瓷封装的CQFP、SOP芯片测试socket
本测试座适用于陶瓷封装的SOP16PIN 间距1.27mm的芯片
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: TQFP32 烧录座 0.5引脚间距 FQFP32 QFP32转DIP32 编程座烧写座

适用于QFP/LQFP/FQFP/TQFP封装的32脚芯片;
适配尺寸：7*7mm(不含引脚）间距0.5mm；
QFP32转DIP32，双层板底板引出为双列直插排针，引脚间距2.54mm（100mil），宽度15.2mm（600mil）
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: QFN20 老化座 0.4间距翻盖弹片测试座 qfn20适配器烧写座

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: EMCP162/186一拖32自动机台测试座

定制产品，适配emcp162/186 封装芯片可设计任意一拖几结构；
自动测试socket
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: QFN44-0.4 ATE测试座适用于自动机台测试烧录

定制产品，适配QFN44PIN, 0.4间距的QFN系列芯片
自动测试socket
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: 3215-2pin贴片晶振测试座

一、型号: 3215（3.2*1.5mm）2PIN 二、脚位:2 三、芯片尺寸:3.2*1.5mm
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: 客制品-wifi模块测试座

根据客户提供模块参数，定制模块测试座
18年定制测试座工厂
欢迎来图咨询定制
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: QFN32-0.5(5*5)下压弹片IC测试座

工厂直售欢迎采购性价比高！
QFN32新结构下压弹片老化座，
QFN32 （5*5）-0.5下压老化座 ANDK自有品牌，
【0.5间距/不带板】
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: SSD一拖二万能测试板 NAND Flash 测试板 SM2246EN主控闪存测试

SSD 2合1 SM2246EN测试板BGA152 / 132/100/88 TSOP48 NAND闪存测试闪存
SM2246EN SM2256K SM2258H SSD解决方案
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: eMMC153 eMMC169 ATE测试座BGA系列机器测试座

新定制：是产品描述：EMMC ATE测试座适用于自动机台测试
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: 定制DDR78ball/96ball/136ball芯片测试治具带安装

客制品DDR3测试治具
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: DDR3-0.8 78pin老化插座球形引脚间距0.8mm DDR DIMM DRAM，用于DDR厂商测试DDR NAND芯片

老化座材料：PEI;
额定电流：1A
接触电阻：30m oh MAX.at 10mA和20mV MAX ...
测试寿命：15000次
引脚间距：0.8mm
工作温度：-55?175度
部件号：DDR3-0.8 ...
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: 5032-2pin贴片晶振测试座

一、产品用途:老化座、测试座，对5032(5.0*3.2)的IC芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振
三、探针结构，接触稳定、体积小。...
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: 2520-4pin贴片晶振测试座

一、产品用途:老化座、测试座，对2520(2.5*2.0)的IC芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 2520(2.5*2.0)-4PIN晶振
三、探针结构，接触稳定、体积小。...
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: 客制品BGA一拖四测试治具

根据客户需求定制BGA一拖四或一拖二、一拖一测试治具
无需lay板，可直接装在客的PCB板上
可批量测试/烧录四颗BGA芯片,省时省力
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: QFP48-0.5老化座端子板电木转接板

HMILU QFP48-0.5老化座端子板电木转接板镀金 QFP保护板
工厂直销店铺欢迎采购质优价廉！端子板，QFP48-0.5，大量现货当天发！
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: DDR4*8导电胶内存条测试治具

专利结构，零磨损 ;
导电胶结构，不烧焊盘和IC；
过压力保护，导电胶寿命更长；
压力自适应，兼容不同厚度的颗粒；
限位框可更换，兼容不同大小的内存颗粒；
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: BGA152/132翻盖探针测试座

工厂新品热销，量大价优！全新设计，采用探针结构，测试座寿命和芯片良率大大提高;
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: 最新LCD+TP CONNECTOR微针模组测试座

定位精度高；
采用进口高性能探针，使用次数超过30万次，
采用探针接触，避免了因使用MATING CONNECTOR造成的CONNECTOR压伤和锡裂；
用进口材料，高精度设备加工，使夹具经久耐用，降低夹具的维护成本...
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