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QFP240pin-0.5mm-31.2×31.2mm合金旋钮翻盖芯片测试座sokcet
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定制模块154pin-1.27pin-60X45mm合金旋钮翻盖测试座
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定制SMD4pin-1.8mm-3.75x3.55mm合金翻盖探针器件测试座
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定制模块180pin-1.0mm-60X35mm合金旋钮翻盖芯片测试座socket
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定制WLCSP21pin-0.5mm-3.24X3.18mm塑胶翻盖芯片测试座
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定制LGA79pin-1.1mm-16×12.2mm合金翻盖弹针芯片测试座socket
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定制BGA292pin-0.8mm-17x17mm芯片老化测试座socket,芯片老炼测试夹具
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定制PGA123pin-1.27mm-54.6x24.5mm合金双扣式芯片测试座(手自一体测试socket)
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定制LCC32pin-1.27mm-14x11.5mmATE自动化测试座socket
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DFN8pin-0.65mm-5×5mm弹片式老化测试座,老炼测试夹具(新款-标准品)
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定制BGA84pin-0.8mm-8x12.5mm合金翻盖芯片测试座,bga芯片测试夹具
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定制BGA96pin-0.8mm-9x13.5mm合金翻盖芯片测试座,存储芯片测试socket
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DFN6(实际下针9pin)-0.5mm-1.5×1.5mm合金翻盖式探针芯片测试座,芯片测试夹具
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定制晶圆级WLCSP16pin-0.4mm-0.83x3.9mm塑胶翻盖探针芯片测试座
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定制BGA1275(下568PIN)-0.5mm-20.5×18.5mm合金旋钮探针光电模块测试座socket
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定制LCC48pin-0.8mm-11×11×1.5mm合金探针测试座socket,芯片测试夹具
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定制LGA122pin-1.5mm-30.5×28mm×2.8mm合金旋钮探针射频模块测试座,模块测试夹具
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定制QFN58pin-0.35mm-6×6mm合金下压探针芯片测试座socket,芯片测试夹具
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定制BGA83pin-0.7mm-10×5.6mm翻盖探针摄像头CMOS芯片测试座socket,芯片测试夹具
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