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鸿怡测试座耐高低温、抗老化、寿命长,世界500强企业指定供应商。
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鸿怡电子新闻中心 / News Center

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    IC socket材料选用

    我们都知道,IC测试座是用来给芯片做测试使用,那么,芯片测试的精准度,一方面取决于测试座加工厂商根据自身行业经验在加工时的孔位精准,材料也是一个重要因素。 鸿怡电子的IC测试治具所采用的材料,根据全球主流竟品材料优缺点分析,经过客户反馈、开发和反复测试,所采用的材料以PEEK为基材,添加陶瓷粉进行填...

  • 04

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    SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储

    SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储 最近,在位于加利福尼亚州圣何塞的OpenCompute Project(OCP)中,SK海力士展示了用于数据中心的Zoned Namedspaces(ZNS)SSD。 SK海力士指出,与之前的SSD产品相比,新款ZNS SSD的速度和可靠性提高了30%,使用寿命更长。值得注意的是,它还具有数据分类存储功能。 普...

  • 03

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    SSD主控芯片CP测试你真的知道么?

    在芯片测试领域,主要分为两部分测试,业界通俗的叫法是CP和FT,我们今天主要谈谈CP的问题。什么是CP测试?CP是(ChipProbe)是缩写,指的是芯片在foundry流片回来后,需要在wafer level 进行简单的DC和功能测试,主要是通过探针卡的探针扎到芯片PAD上,然后通过ATE输入激励信号,测试芯片的输出响应。 CP测试的工...

  • 03

    /26

    中国存储自制化设备势不可挡

    中国存储产业的发展正蕴含着巨大的潜力市场,引起了国内外产业链企业的重点关注,部分企业已经开始提前布局。 日前,国内某半导体测试解决方案提供商宣布与韩国内存测试设备厂商达成合作,携手抢食大中华区内存测试设备市场蛋糕。 这次两者合作主要是看准未来中国自制内存及SoC的发展与商机。中国存储自制化已势不...

  • 03

    /22

    为什么要进行IC测试?

    IC测试是确保产品良率和成本控制的重要环节,在IC生产过程中起着举足轻重的作用。同样,IC测试座可以根据IC测试的各项参数指标作出对应的匹配和连接,在IC测试中同样也起着很重要的作用。 IC测试是集成电路生产过程中的重要环节,测试的主要目的是保证芯片在恶劣环境下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标...

  • 03

    /21

    老生常谈,浅聊什么是封装测试?

    封装测试(final test) 在晶圆测试后,将好的芯片在晶圆上标记出来(又叫blue tape),然后切割成一个一个单独的芯片,将这些一个一个的芯片封装成黑盒子,也就是这个样子。 然后我们将封装好的芯片,分别装进IC socket中,然后再将socket装进一个board中,其中,这又涉及到一些新概念。 首先我们要知道,...

  • 03

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    关于CPU高频芯片的测试

    我们都知道芯片测试的工序非常繁杂,由于半导体芯片纳米级的精细度难以把控成品质量.所以在芯片出厂前以及出厂后的测试都是要进行严格把控。 例如,AMD公司需要生产A10处理器,目标主频4.0Ghz,核心显卡的频率900Mhz,电压1.2V,功耗70W。然而想要正好达到这个指标是非常困难的,或者说不可能把控。目前只能采取提...

  • 03

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    Flash芯片的分类

    Flash又分NAND Flash和NOR Flash,NOR型存储内容以编码为主,其功能多与运算相关;NAND型主要功能是存储资料,如数码相机中所用的记忆卡。 现在大部分的SSD都是用来存储不易丢失的资料,所以SSD存储单元会选择NAND Flash芯片。这里我们讲的就是SSD中的NAND Flash芯片。针对flash芯片的测试,鸿怡电子可以提供完整...

  • 03

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    折叠屏手机的量产之路为何如此之难?

    早在1974 年,施乐帕洛阿尔托研究中心的Gyricon电子纸,让柔性显示屏的概念自此诞生。这种可以像纸一样弯曲,又能直接显示图像的材料自提出后一直都很吸引人,只是由于技术成本等问题,在很长一段时间都不能从实验室走出。在功能机时代,NEC、京瓷、索尼等厂商推出了类似折叠屏幕的电子产品。这种折叠屏手机更像是...

  • 03

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    了解下关于半导体芯片的FT测试环节

    半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。 今天介绍一下芯片测试的最后一个环节FT测试。鸿怡电子可提供用于FT测试的各类测试socket.以及ATE测试...

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