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鸿怡电子新闻中心 / News Center

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    鸿怡电子大电流弹片微针模组(blade block)与传统探针模组(pogo pin)的分析对比

    本文将由其它治具厂商生产的传统探针模组(pogo pin)与鸿怡电子最新研发的大电流弹片微针模组(blade block)进行一个分析对比,3分钟时间看完本文,让您的企业节省更多成本。 pogo pin微针模组(其它厂商生产) 鸿怡电子大电流弹片微针模组 Pogo pin是电子产品中的精密连接器部件,是由弹簧、针管、针轴三个...

  • 07

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    为何你的芯片烧录不良?

    很多工程师都遇到过这样的问题,在研发测试阶段烧录芯片都没有问题,但是一旦进入量产,生产部门就频繁反馈芯片出现烧录不良的情况,那么原因究竟在哪里?是芯片本身的问题?还是烧录器问题?还有哪些其它的可能性呢? 常见的思路必然是看: 1、批量芯片本身是否存在不良率; 2、烧录设备...

  • 07

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    关于芯片测试项目流程

    1、接到客户的芯片资料,通常是正在开发的芯片,资料严格保密,有时候芯片还在design阶段就会开始联系合作的测试公司开始准备测试项目,以缩短整个开发周期; 2、根据芯片资料设计测试方案(test plan),这个过程经常会有芯片功能或者逻辑不明确的地方,所以需要与设计工程师反复沟通review。 ...

  • 07

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    关于大电流BTB弹片微针模组的产品介绍

    鸿怡电子成立于2000年是一家集科研、生产、销售于一体 的技术密集型高新企业,专业研制、开发、生产各类 IC的Burn-in Socket、Test Socket及各类IC测试治具 ,向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接解决方案; 专业研制、开发、生产各类高性 能、低成本的Burn-in Test Socket及各类IC测试治 具,...

  • 07

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    芯片测试的几种方法?

    我们都了解,芯片测试主要分三大类:芯片功能测试、性能测试、可靠性测试,芯片产品要上市三大测试缺一不可。 功能测试,是测试芯片的参数、指标、功能,用人话说就是看你十月怀胎生下来的宝贝是骡子是马拉出来遛遛。 性能测试,由于芯片在生产制造过程中,有无数可能的引入缺陷的步骤,即使是同一批晶圆和...

  • 07

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    EMMC闪存将会被UFS全面替代?

    我们都知道目前的EMMC闪存多数应用在”够用就好“的主流型产品上,而UFS闪存却大多被应用在体验较好的高端型旗舰产品上。 那么是不是说,在不久的将来,EMMC闪存将会被UFS全面替代呢? 谈到体验,我们就不得不提一下eMMC 5.1、UFS 2.0、UFS 2.1三者实际使用时的速度,一般来说,eMMC 5.1的速度会在200M...

  • 07

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    应用于SIM卡密钥芯片的老化测试解决方案

    随着市面上电子产品的更新换代,小型封装的芯片越来越受欢迎。其中,尤数QFN系列的封装最为广泛。电源管理芯片同,SIM卡密钥芯片、MEMS传感器等等产品都可见到它的身影。时,对于小型封装芯片的老化、以及性能测试,也是芯片设计公司以及封测厂的重中之重。 针对QFN8系列芯片的老化,测试,鸿怡电子研发设计出一系...

  • 07

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    芯片测试座在芯片测试中的重要作用

    芯片测试是一个比较大的问题,直接贯穿整个芯片设计与量产的过程中。 出厂时,芯片fail可以是下面几个方面,故需要对芯片进行各种的仿真验证: 1、功能fail,某个功能点点没有实现,这往往是设计上导致的,通常是在设计阶段前利用芯片测试座来对功能进行仿真验...

  • 06

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    COF封装驱动芯片产能爆发

    熟悉COF供应链业者透露,Android阵营华为提前下单已经带动OPPO、vivo等将在第2季更扩大追单,集成触控与显示芯片(TDDI IC)封装、测试、COF基板仍供不应求,继去年底陆续启动COF测试产能扩充之后,业者估计将在今年第3季展开封装产能大扩产,幅度将是倍数水平。 事实上,TDDI IC测试产能在2018年底开始供需吃紧,...

  • 06

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    大电流微针模组在电池PACK线自动化装置的应用

    大电流微针模组,顾名思义,可过更大电流的微针测试模组,一般应用于电池/电源类产品的测试。 我们都知道,电池的PACK自动化生产线工艺包括从电芯的分选配组、自动焊接、半成品组装、老化测试、PACK检测、PACK包装等等,最后组成的电池模组。 简单来说,电池模组则是由众多的电芯,通过pack装配线严格筛选,将一致...

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