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鸿怡测试座,终身技术支持保修
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新闻中心 / News Center

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    2219-02

    LPDDR5内存标准发布:速度翻番、功耗降低 2月20日,JEDEC(固态存储协会)正式发布了JESD209-5,即Low Power Double Data Rate 5 (LPDDR5)全新低功耗内存标准。 相较于2014年发布的第一代LPDDR4标准,LPDDR5的I/O速度从3200 MT/s 提升到...

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    2119-02

    鸿怡电子test socket特点 Test Socket特点: 采用手动翻盖式结构和双扣式结构,操作方便; 翻盖的上盖的IC压板采用弹压式结构,能自动调节下压力,保证IC的压力均匀; 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,...

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    2019-02

    关于BGA芯片级封装的老化测试座 老化炉工作于各种不同的温度下,典型的最大老化温度为150摄氏度,IC老化座的寿命需要满足在高温下的总时间可能超过1000小时。由于老化期间加载了接触件,弹性元件经过了应力松弛。其中一种最佳弹...

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    1919-02

    主控芯片AS2258支持最新製程3D NAND 随着大数据需求爆发,电子产品的发展与技术进步,影片、小视频、音乐、照片等各种形式的数据量持续爆增,持续推动数据存储市场需求不断增长。 SSD所具备大容量、高稳定、高速度、低功耗等优势,...

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    1819-02

    自动化测试治具的分类 随着时代的发展与进步,越来越多的行业从人工走向智能,被自动化设备所代替。今天我们来了解一下什么是自动化测试设备? 自动化测试治具设备是一种通过计算机软件控制,进行器件、PCBA、子系统和...

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    1519-02

    用于贴片晶振老化编程的晶振测试座 今天向大家详细介绍用于贴片晶振老化、编程、测试的晶振测试座。 晶振测试座,是鸿怡电子一直以来比较重要的产品系列之一。一般用于晶振生产厂家对晶振进行老化、测试以及晶振的编程等 测试座产...

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