鸿怡电子,告诉您芯片的HTOL测试是什么? 在前面我们介绍了IC的可靠性试验的大致,那么IC在使用期的寿命测试中的HTOL是什么呢? 使用期的寿命测试又包含高温工作寿命(HTOL)和低温工作寿命(LTOL),对于亚微米级尺寸的器件,热载流子效...
IC产品的可靠性测试?你了解多少 IC产品的可靠性测试?你了解多少 质量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是IC产品的生命,好的品质、长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所在。 Quality就是产品性能的...
U盘、SSD存储芯片BGA152/BGA132flash盘料自动测试机+分选机震撼上市 在固态硬盘的生产过程中,往往需要要经过(NT)闪存测试、(EVT)工程验证测试/(DVT)设计验证测试、(RDT)可靠性测试、(HTT)高温测试等等重要测试。 这些测试能够有效的保证固态硬盘的最终性能...
您一定要看的,关于IC老化试验的干货 芯片在封装完毕后,可能存在潜在缺陷,这些会导致芯片性能不稳定或者功能上存在潜在缺陷,如果这些存在潜在缺陷的芯片被用在关键设备上,有可能发生故障,造成用户财产损失或者生命危险。而老化...
全球最小的MEMS压力传感器诞生 低成本、高性能的小型化压力传感器一直是消费电子市场不断追求的目标。研发高良率单芯片工艺来制造更小且更高性能的芯片是其中一种解决方案。近日,中国科学院上海微系统与信息技术研究所发表最...
三分钟,带你全方面了解它——大电流弹片微针模组 “ 测试治具是专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。 你懂了吗? 光看这个定义,如果你不是专业的话还真的很难GET到TA的真谛, 就拿凯智通研...