- [鸿怡动态]定制射频IC测试座必须要知道的几点要素？2018年10月10日 17:14
- 经常接到客户的询盘，需要定制某款射频IC的测试座或是测试治具。这时我们的销售工程师不仅需要知道客户手中对应芯片的封装参数、测试频率、电流、温度等要求，还需要了解关于射频IC更详细的关于频率的插损、回损等参数。
那么，插损和回损是什么呢？
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- [行业资讯]IC测试（Wafer Level）知多少……2018年10月10日 09:46
- DFT设计是芯片设计过程中很重要的一个环节，其目的是为Wafer Level test提供高效快速的测试方法。Wafer Level test要测哪些内容呢，下面逐一展开描述。 Function Test（功能测试） 芯片在生产制造过程中会引入各种故障，通常会引起功能的失效。这些失效包括Stuck-at Fault，Open Fault，Bridge Fault等。 Stuck-At Op
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- [行业资讯]IC测试的分类2018年09月28日 10:56
- 集成电路芯片的测试具体包括设计阶段的设计验证、晶圆制造阶段的过程工艺检测、封装前的晶圆测试以及封装后的成品测试，贯穿设计、制造、封装以及应用的全过程，在保证芯片性能、提高产业链运转效率方面具有重要作用。 设计验证，又称实验室测试或特性测试，是在芯片进入量产之前验证设计是否正确，需要进行功能测试和物理验证。 过程工艺检测，即晶圆制造过程中的测试，需要对缺陷、膜厚、线宽、关键尺寸等进行检测，属前道测试。 晶圆测试（Chip Probing，又称中测
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- [鸿怡动态]鸿怡电子中秋放假通知2018年09月21日 15:41
- 又是一年月圆时，鸿怡电子深深感谢您对我们的关注、信任与支持！无论现在，还是将来，我们都会不断学习与改进，以最高品质的IC测试座产品和最贴心温暖的服务，回报客户们对鸿怡电子的厚爱。
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- [行业资讯]芯片设计公司怎么充分利用IC测试量产数据？2018年09月20日 17:16
- 鸿怡电子可提供定制各类的IC测试治具，广泛应用于ODM/半导体FAE部门的IC验证，希望以后能够有机会在这方面能有更进一步的探讨和说明,给广大国内设计公司一些更具体的建议和帮助！
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- [鸿怡动态]鸿怡电子IC测试座测试探针的特性？2018年09月18日 17:57
- 大家都知道测试探针是IC测试座的重要部件之一，那么它有什么特性呢?下面我们一起来了解一下。 鸿怡电子生产、定制的IC测试座产品，根据探针针头的结构不同，大多采用两种结构的探针,一种是尖头探针，大多用于QFN/QFP/LGA等封装的芯片，可以直接扎在焊盘上。另外一种为爪头探针，适用于BGA类似的球状焊盘点上。爪头包裹住芯片的锡球，使其更良好的接触。 微型双头测试弹簧探针：可减少待测器件上测试球的共面性。适用IC间距：从0.3毫米到1.27毫米 测试弹簧探针长度短 减少电容、电感
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- [鸿怡动态]IC测试治具在探针的选择上要考虑哪些重要因素？2018年09月14日 17:42
- 探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色，因此在定制IC测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么，当客户在咨询定制IC测试治具时，我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。
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- [鸿怡动态]如何对IC测试座、测试治具进行清理？2018年09月13日 16:00
- 经常有客户反馈，使用IC测试座一段时间后，探针尖端会残留一些锡渣或灰尘，导致测试不稳定。 遇到这种问题，您可以使用防静电刷，浸入无水酒精，然后轻轻刷上探针以去除残留物。 如有必要，可以使用风枪吹IC测试座探头针区域，这样效果更好;
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- [行业资讯]接触阻抗的大小影响因素2018年09月04日 16:05
- 经常，有客户在选择鸿怡电子的IC测试座时，会问到测试座的接触阻抗问题，那么，接触阻抗的大小到底跟哪些因素有关呢？
下面，就让鸿怡电子的工程师为大家来解惑！
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- [行业资讯]鸿怡电子告诉您，什么是测试探针?2018年08月28日 15:37
- 鸿怡电子拥有多年的IC测试座、测试治具设计研发生产经验，所有的探针均采用国外进口品牌。保证客户的测试更加精准，稳定。测试治具的寿命也更长！
欢迎来电咨询！
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- [鸿怡动态]为什么要用到IC测试治具呢？2018年08月24日 15:37
- 目前也有一些专用的测试仪器来检验IC的好坏，但这样的仪器比较昂贵，而且后续测试时，每一款IC还要匹配同款的IC测试座，成本很高。对一般企业来说承受不起这样昂贵的费用。而我们制作的IC测试治具呢，不仅成本低、交期短、测试结果更加的直观可靠。
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- [行业资讯]SIP封装芯片的主推及SIP老化座产品2018年08月21日 16:59
- 近年来，芯片复杂度和集成度在逐渐攀升，高集成度芯片让IC测试项目变得更加复杂，SiP等新封装形式也需要用新的测试手段来应对 。为了保证芯片性能的可靠性，封测厂商往往会在对芯片进行长时间的老化测试，而此也会用到大量的SIP老化座产品。
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- [鸿怡动态]SOT和大电流功率封装芯片的IC测座2018年08月17日 17:47
- 鸿怡电子现可提供SOT23-3测试座，SOT23-5测试座，SOT23-6测试座，SOT223测试座，SOT89测试座，D2PA测试座，D2PAK5测试座。
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- [根栏目]SOT和大电流功率封装芯片的IC测座2018年08月17日 17:33
- 鸿怡电子现可提供SOT23-3测试座，SOT23-5测试座，SOT23-6测试座，SOT223测试座，SOT89测试座，D2PA测试座，D2PAK5测试座。
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- [行业资讯]IC老化测试座的清理和保养2018年08月16日 17:28
- IC老化座测试座使用时间长了之后肯定会有一些灰尘和污垢，从而影响客户的测试和老化。那么我们应该如何进行清洁呢？
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- [行业资讯]IC测试不稳定怎么办？2018年08月10日 17:55
- 通常客户在用ATE测试座做IC测试的时候，经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问题，往往是最令人头疼的，但其实只要仔细分析，最终还是能够找到解决方案的。
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- [鸿怡动态]鸿怡电子向您讲解关于射频IC测试座的知识2018年08月09日 18:13
- 鸿怡电子通过与国内几大射频IC设计公司的多次密切合作，在射频IC测试座、测试治具方面经过多次的研发改良，已经能够满足很好的众多射频IC设计公司的需求，测试座可过高达25G的频率，测试性能稳定可靠。已经成为射频IC厂家的最佳合作伙伴！
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- [行业资讯]简述IC测试的分类2018年08月09日 14:57
- IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC 功能测试（Functional Test）, 化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation）， 可焊性测试（Solderbility Test）， 直流参数（电性能）测试（Electrical Test）, 不损伤内部 连线测试（X-Ray）， 放射线物质环保标准测试（Rohs）以及 失效分析（FA）验证测试。
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