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» 搜索:ic测试夹具
定制BGA32pin-0.4mm-2×4mm合金翻盖测试座
BGA32pin封装芯片测试座规格参数
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:2×4mm
芯片厚度:0.7mm
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定制DFN10pin-0.5mm-3.2x2.5mm塑胶翻盖测试座
DFN10pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:3.2×3.5mm
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定制LGA14pin-0.5mm-2.5x3mm塑胶翻盖测试座
LGA14pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.5×3mm
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定制模块PLCC48pin-1.0mm-16.4x16.4mm合金翻盖探针测试座
PLCC48pin模块探针测试座规格参数:
封装类型:PLCC
模块引脚:48pin
引脚间距:1.0mm
模块尺寸:16.4×16.4mm
模块厚度:4.0mm
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定制QFN100pin-0.5mm-8X8mm合金翻盖测试座
QFN100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:100pin
芯片尺引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:8×8mm
更多 +
定制DFN16pin-0.65mm-5X6mm翻盖探针合金测试座
DFN16pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.6mm
芯片尺寸:5×6mm
芯片厚度:0.75mm
更多 +
定制BGA225pin-0.8pin-12X12mm合金旋钮探针测试座
BGA225pin封装芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:225pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:12×12mm
更多 +
定制QFN80pin-0.5mm-6X6mm翻盖合金测试座
QFN80pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:6×6mm
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WSON8/WLP8编程烧录座-DFN8pin-1.27mm-6x8mm转USB接口测试座
DFN8pin转USB接口芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN8/QFN8/WSON8通用
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:1.27mm
芯片尺寸:6×8mm
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摄像头IC测试架 微控制器测试治具 BGA192测试夹具
产品简介:针对摄像头IC进行筛选测试。
芯片规格:BGA封装,192PIN,简介0.65mm,尺寸14*14mm。
产品特点:
采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移位下压平稳接触稳定;
探针的爪头形突起能刺破焊...
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QFN10(3*3)下压弹片测试座 芯片适配座QFN10老化座0.5间距
鸿怡电子主要生产、销售各类IC测试座,IC测试夹具,老化测试座,高频测试座,BGA测试插座,贴片SOP测试插座等.测试座封装含概:BGA,,CSP,PGA,QFN,MLF,LGA,QFP,TSOP,SOP,PLCC,SOJ,TO等,并且可以根据客户需求定制BGA/QFN测试...
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QFP100 IC测试治具POGOPIN接触式翻盖结构
应用集成:QFP100芯片;
结构:翻盖式接触式:
POGOPIN定制:是的;
manual或手动和自动作为一个整体,定位精确,操作方便,使用进口探针;
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[新闻中心]鸿怡电子工程师从五个方面总结:IC测试座—在集成电路芯片测试中起到什么作用?
2024年05月10日 11:46
IC测试座是集成电路芯片测试中重要的连接器设备之一,根据鸿怡电子IC测试座工程师介绍:它在测试过程中发挥着至关重要的作用。IC测试座是一种用于测试集成电路芯片的底座装置,又称IC测试底座、IC测试socket、IC测试夹具等,它可以连接芯片和测试设备,为测试提供电源和信号传输的功能。 1、IC测试座可以提供稳定的电源供应。在测试过程中,芯片需要一个稳定的电源来运行,以确保测试结果的准确性。IC测试座通过连接芯片和测试设备的晶圆卡座,可以为芯片提供所需的电源,并保证电压的稳定
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[新闻中心]鸿怡电子多功能存储芯片测试座:推动国产芯片替代,提高测试效率、降低测试成本
2024年04月22日 11:55
多功能存储芯片是现代电子产品中不可或缺的重要组成部分。鸿怡电子存储芯片测试座socket工程师介绍:它们具有非常独特的封装和测试特点,需经过一系列严格的测试才能确保其稳定性和性能。 一、多功能存储芯片的封装特点 多功能存储芯片的封装是指将芯片固定在包裹材料中,以保护芯片免受环境因素的影响。鸿怡电子存储芯片测试座socket工程师介绍:不同类型的存储芯片封装方式各异,常见的封装形式包括裸片、QFN、BGA、EMMC、TSOP48等。 裸片封装是将芯片直接粘贴在PCB上,常用于
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[新闻中心]芯片测试工程师:EMMC/UFS系列芯片测试座、测试夹具治具,及其规格参数信息
2023年12月25日 10:38
eMMC(Embedded Multi Media Card)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。eMMC在封装中集成了一个控制器,提供标准接口并管理闪存,使得手机厂商就能专注于产品开发的其它部分,并缩短向市场推出产品的时间。 eMMC芯片一般为1.8V和3.3V;目前鸿怡电子拥有齐全的 eMMC系列老化测试座,烧录以及功能性测试座,包括eMMC153/221/529/254/162/186甚至UFS2.1以上所有封装的测试座。 SPECI
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[新闻中心]鸿怡电子芯片测试工程师:QFN芯片测试座的特点、参数、结构,QFN芯片测试座选配
2023年12月18日 10:53
QFN/DFN封装翻盖/下压结构测试座支持EEPROM,驱动器IC,电源IC等 鸿怡电子QFN芯片测试座工程师介绍:QFN芯片测试座、老化座、烧录座—009系列,下压开窗结构,适用自动化测试机台 QFN芯片测试座特点与参数: 1、Socket壳体:PEI 2、弹片材料:铍铜 3、弹片镀层:镍金 4、操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比 5、接触阻抗:50mΩmax 6、耐压测试:700V AC for lminute 7、绝缘阻抗:1000mΩ500
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[新闻中心]鸿怡电子工程师分享QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装系列芯片测试座案例
2023年12月14日 10:29
QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装翻盖式结构测试座支持EEPROM、驱动器IC,电源IC等。 根据鸿怡电子QFP芯片测试座工程师介绍:QFP封装是元件封装的一种形式,常用的封装材料有:塑料、陶瓷、玻璃、金属等,根据市场需求,基本上采用塑料封装,其应用范围广泛,主要用于各种集成电路。 芯片测试座分为翻盖式和下压式结构,现有适配芯片引脚间距为:0.4/0.5/0.8mm,适用QFP封装系列芯片测试环境:老化、测试、烧录。 QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装芯片测试座特点
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[新闻中心]鸿怡电子12年SOP芯片测试工程师分享SOP/SOIC系列下压测试座案例
2023年12月13日 10:58
Support EEPROM。Driver IC,Power IC etc SOP Package IC. 根据鸿怡电子SOP芯片测试座工程师介绍:SOP封装是元件封装的一种形式 ,常用的封装材料有:塑料、陶瓷、玻璃 、金属等,根据市场需求,基本上采用塑料封装,其应用范围广泛,主要用于各种集成电路。 根据两排引脚之间的宽度,双排成直线型:一般有7.4~7.62mm、10.16mm、12.7mm、15.24mm等 根据双列平包装两柱之间的宽度(包括引线长度),一般为:6~6.
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[新闻中心]光子芯片测试:其封装特点与鸿怡电子芯片测试解决方案,光子芯片测试座的选配
2023年11月13日 15:16
光子芯片:打破信息传输瓶颈的创新利器 在信息时代,数据的传输速度和处理能力成为了关键问题。而光子芯片的出现,给这一领域带来了实质性的进展。鸿怡电子芯片测试座工程师介绍:光子芯片是一种利用光传输信息的技术,其基本原理是利用光的特性进行信号的传输和处理。与传统的电子芯片相比,光子芯片具有更高的传输速度和更低的能耗。这使得光子芯片在大规模数据传输、云计算、人工智能等领域具有广泛应用的潜力。 1、光子芯片具有更高的传输速度。光信号的传输速度可以达到光速,比电子信号的传输速度快上几百
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[新闻中心]QFN芯片封装特点与适用场景,QFN芯片测试解决与方案与芯片测试座
2023年11月07日 15:35
QFN芯片封装形式的特点与应用全解析 QFN芯片封装,即"Quad Flat No-Lead"的缩写,中文名为"无铅方形扁平封装"。与传统的插针封装相比,QFN芯片封装采用了无铅焊接技术,减少了封装的体积和重量,使得芯片在同样尺寸下能够集成更多的功能。根据鸿怡电子芯片测试座工程师介绍:由于QFN芯片封装去掉了插针,使得芯片与外部电路的连接更加简单可靠。 1、QFN芯片封装具有较小的尺寸。相比传统的封装形式,QFN芯片封装的体积更小,能够实现更高的集成度。这对于如今追求小型化
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