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» 搜索:0.8mm
BGA67-0.8下压弹片芯片测试老化座
产品用途:测试座,对BGA67的IC芯片进行测试、数据清空
适用封装:BGA67 引脚间距
0.8mm
测 试 座:BGA67-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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TSOP54-0.8下压弹片IC测试老化座
产品用途: 老化座、测试座,对TSOP54的IC芯片进行测试
适用封装: TSOP54引脚间距
0.8mm
测 试 座: TSOP54-0.8 SOCKET
特 点: 导电体采用进口铍铜材料厚金处理,阻...
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QFP44下压弹片双层板芯片烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP44引脚间距
0.8mm
测试座:QFP4-0.8烧录座
特点:底部引出引脚为不规则排列
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QFP44下压弹片双层板芯片烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP44引脚间距
0.8mm
测试座:QFP4-0.8烧录座
特点:底部引出引脚为不规则排列
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QFP32-0.8翻盖弹片双层板烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFP32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP32、PQFP32、TQFP32、FQFP32,引脚间距
0.8mm
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QFP44下压弹片芯片老化座
产品用途:编程座、测试座,对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP44引脚间距
0.8mm
测试座:QFP4-0.8老化座
特点:底部引出引脚为不规则排列
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QFP32翻盖弹片芯片老化座
产品用途:编程座、测试座,对QFP32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP32、PQFP32、TQFP32,引脚间距
0.8mm
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[新闻中心]IC测试工程师:分解QFN封装芯片测试座核心技术-深圳鸿怡电子
2025年02月18日 11:12
QFN封装芯片的特点与适用场景 QFN(Quad Flat No-lead)封装凭借无引脚设计、底部大面积裸露焊盘,成为高密度小型化电子产品的优选方案。其核心优势包括: 1. 体积轻薄:封装高度低至
0.8mm
,适用于智能穿戴、微型传感器等空间敏感场景; 2. 散热高效:底部金属焊盘直接连接PCB,热阻降低30%-50%,满足5G基站、车载ECU等高功耗需求; 3. 电性能优越:短引脚结构减少寄生电感,适配高频通信芯片及高速数据处理模块。 主要应用于消费电子(如手机射频
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[新闻中心]鸿怡电子工程师分享QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装系列芯片测试座案例
2023年12月14日 10:29
QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装翻盖式结构测试座支持EEPROM、驱动器IC,电源IC等。 根据鸿怡电子QFP芯片测试座工程师介绍:QFP封装是元件封装的一种形式,常用的封装材料有:塑料、陶瓷、玻璃、金属等,根据市场需求,基本上采用塑料封装,其应用范围广泛,主要用于各种集成电路。 芯片测试座分为翻盖式和下压式结构,现有适配芯片引脚间距为:0.4/0.5/
0.8mm
,适用QFP封装系列芯片测试环境:老化、测试、烧录。 QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装芯片测试座特点
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[鸿怡动态]BGA48下压弹片老化座
0.8mm
间距编程座_ANDK测试座
2021年09月22日 11:41
工厂介绍 鸿怡电子生产BGA48下压弹片老化座
0.8mm
间距编程座_ANDK测试座,同时还生产其他IC测试夹具治具。
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BGA定制测试座
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[鸿怡动态]芯片老炼试验中老炼座的选型要求
2020年03月18日 11:15
芯片出厂前的老炼试验是一项必不可少的程序,其中,为芯片选择相匹配的老炼测试座也是工程师们较为头痛的一项工作。那么,老炼测试座该如何进行选型,需要知道哪些重要因素呢。 首先,在选择老化座时,我们需要找到一家靠谱的芯片老化座供应商。鸿怡电子在对针芯片的老化socket研发,生产方面有着丰富的经验。并且能够针对非标型芯片老炼座的一件定制,针对标准间距的产品如0.5mm、
0.8mm
、1.0mm,可使用公司的开模弹片式结构,20*20mm 尺寸以下的芯片,我们会采用开模结构外形的测试座
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[鸿怡动态]EMMC测试座的选型
2019年01月16日 14:08
在前面鸿怡电子小编给大家介绍过烧录EMMC芯片时,EMMC烧录座的选型。那么,针对不同EMMC芯片的尺寸和作用的不同,又该如何选择适配座呢? 即使是同PIN数封装的BGA153芯片,其封装大小也不尽相同,主要体现在芯片的面积上。最常见的eMMC芯片封装尺寸为11.5mm*13mm,高度一般为
0.8mm
-1.0mm。小封装的尺寸为10mm*11mm、9mm*11mm ,高度一般为
0.8mm
-1.0mm。另外,还有其它几种常见的封装尺寸,分别为14mm*18mm、12mm*18m
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