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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: USON8/DFN8pin-0.5mm-2X3mm军工级耐高低温芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*3mm
更多 +

: 定制BGA256pin-1.27mm-21x21mm合金旋钮探针老化座

BGA256pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：256pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：21*21mm
更多 +

: 定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

CQFN21pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：7.5*7.5mm
更多 +

: 定制BGA256pin-0.8mm-13x13mm合金翻盖旋钮探针测试座

BGA256pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：256pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：13*13mm
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: 定制DDR3-84pin-0.5mm-11.5 x7.5mm合金翻盖测试座

DDR3-BGA84pin芯片测试座规格参数：
封装形式：DDR3-BGA
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：11.5*7.5mm
更多 +

: 定制BGA81pin-0.5mm-5x5mm合金翻盖测试座

BGA81pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：81pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*5mm
芯片厚度：0.92mm
更多 +

: 定制BGA400pin-0.8mm-16x16mm合金旋钮双扣测试座

BGA400pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：400pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：16*16mm
芯片厚度：1.3mm
更多 +

: 定制陶瓷封装BGA868pin-1.0mm-32x32mm合金旋钮翻盖测试座

陶瓷封装BGA868pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：868pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：32*32mm
更多 +

: 定制BGA100pin-1.4mm-15x15mm封装芯片合金旋钮探针测试座

BGA100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：1.4mm
适配芯片尺寸：15*15mm
更多 +

: 定制BGA218pin-0.5mm-9.15x9.15mm合金旋钮翻盖探针测试座

BGA218pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：BGA
芯片引脚：218pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：9.15*9.15mm
芯片厚度：0.982mm
更多 +

: DFN8pin-0.65mm-3.3x3.3mm翻盖弹片老化测试座

DFN8老化测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：3.3*3.3mm
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: 功率器件TO252-3L(252-30单工位，4PIN）翻盖老化测试座

TO252-3工位4pin老化座规格参数：
功率器件封装形式：TO252
引脚：4pin
引脚间距：2.24mm
本体尺寸：5.15mm
喊引脚尺寸：6.54mm
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: QFN48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化测试座

QFN48pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: 定制BGA72pin-1.0mm-12x12mm合金翻盖探针测试座

BGA72pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：72pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：12*12mm
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: JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件老化测试座

JFP8pin元器件老化座规格参数：
元器件封装形式：JFP
元器件引脚：8pin
元器件引脚间距：1.27mm
适配元器件尺寸：7.5mm
更多 +

: DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: SOP14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

SOP芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
更多 +

: QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: SOD123-2pin-2.7mm二极管老化测试座

SOD123二极管老化测试座规格参数：
封装类型：SOD123
pin脚：2pin
适配IC本体尺寸：2.7mm
适配IC含引脚尺寸：3.7mm
更多 +

: QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

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