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» 搜索:老化测试座
定制BGA100pin-1.4mm-15x15mm封装芯片合金旋钮探针测试座
BGA100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:1.4mm
适配芯片尺寸:15*15mm
更多 +
定制BGA218pin-0.5mm-9.15x9.15mm合金旋钮翻盖探针测试座
BGA218pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:218pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:9.15*9.15mm
芯片厚度:0.982mm
更多 +
DFN8pin-0.65mm-3.3x3.3mm翻盖弹片
老化测试座
DFN8
老化测试座
规格参数:
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:3.3*3.3mm
更多 +
功率器件TO252-3L(252-30单工位,4PIN)翻盖
老化测试座
TO252-3工位4pin老化座规格参数:
功率器件封装形式:TO252
引脚:4pin
引脚间距:2.24mm
本体尺寸:5.15mm
喊引脚尺寸:6.54mm
更多 +
QFN48pin-0.5mm-7x7mm芯片
老化测试座
QFN48pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制BGA72pin-1.0mm-12x12mm合金翻盖探针测试座
BGA72pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:72pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:12*12mm
更多 +
JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件
老化测试座
JFP8pin元器件老化座规格参数:
元器件封装形式:JFP
元器件引脚:8pin
元器件引脚间距:1.27mm
适配元器件尺寸:7.5mm
更多 +
DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片
老化测试座
DFN8pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
SOP14(20)pin-1.27mm芯片下压
老化测试座
SOP芯片
老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:14(20)pin
芯片引脚间距:1.27mm
更多 +
QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片
老化测试座
(带顶针)
QFN16pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
SOD123-2pin-2.7mm二极管
老化测试座
SOD123二极管
老化测试座
规格参数:
封装类型:SOD123
pin脚:2pin
适配IC本体尺寸:2.7mm
适配IC含引脚尺寸:3.7mm
更多 +
QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖
老化测试座
QFN40pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:40pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:6*6mm
更多 +
DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片
老化测试座
DFN6pin芯片
老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:6pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
定制BGA100pin-1.0mm-11x11mm塑胶翻盖测试座
BGA100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:11*11mm
更多 +
定制QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座
QFN芯片
老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.89mm
适配芯片尺寸:8.84*8.84mm
更多 +
定制BGA331pin(实际下针188PIN)-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座
BGA331pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:331pin(实际下针188pin)
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:13*13mm
更多 +
定制BGA252pin-0.8mm-13x13mm合金旋钮测试座
BGA252pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:252pin
芯片引脚间距:0.8mm
适用芯片尺寸:13*13mm
更多 +
QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖
老化测试座
QFP100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:0.65mm
芯片本体尺寸:20*20mm
含引脚尺寸:24*24mm
更多 +
QFN20pin-0.65mm芯片
老化测试座
QFN20pin芯片
老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.65mm
适用芯片尺寸:5*5mm
更多 +
SOT23-3pin-1.4mm芯片
老化测试座
SOT23-3pin芯片
老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:SOT23
芯片引脚:3pin
适配IC本体尺寸:1.4mm
适配IC含引脚尺寸:2.4mm
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