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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: DFN8-1.27一拖十六老化测试座适用于自动化设备

型号: DFN8/10一拖十六旋钮下压式老化座
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试，烧录，编程，老化
封装方式: QFN
引脚间距: 1.27/0.8/0.5mm
本体尺寸 : 6*8/5*6等
引脚数:...
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$新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座$: 新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管测试座_PDFN芯片老化座

该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
适用于PDFN、DFN、TO等封装大电流大功率芯片、MOS管
常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老...
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: 定制烧录测试座 QFN28测试夹具 QFN28老化测试座 QFN28烧录座0.4

型号: QFN28-0.4
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 烧录，编程，老化，测试
封装方式: QFN
引脚间距: 0.4mm
总尺寸 (含引脚): 4x4x1mm
主体尺寸: ...
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: TO封装元器件测试座 TO46-5PIN老化座耐高温 TO46-5PIN热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-5-2.54
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用...
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: TO封装元器件测试座 TO56老化座耐高温 TO56光电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO56-5-2.2
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...
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: TO封装元器件测试座 TO46老化座耐高温 TO46热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-4-2.0
材质类别：
塑胶主体：进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...
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: 老化测试座1206/1210贴片电容翻盖式老化座多工位高低温夹具插座

测试座型号：1210贴片电容测试座
适配电容尺寸：3.2mm*2.5mm
封装型号：1210
高低温范围：-55℃——+150℃
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: 0603贴片电容翻盖式老化座多工位高低温老化测试座镀金插座

测试座型号：0603贴片电容测试座
适配电容尺寸：1.6mm*0.8mm
封装型号：0603
高低温范围：-55℃——+150℃
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: QFN10（3*3）下压弹片测试座芯片适配座QFN10老化座0.5间距

鸿怡电子主要生产、销售各类IC测试座,IC测试夹具,老化测试座,高频测试座,BGA测试插座,贴片SOP测试插座等.测试座封装含概:BGA,,CSP,PGA,QFN,MLF,LGA,QFP,TSOP,SOP,PLCC,SOJ,TO等,并且可以根...
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: BGA63弹片老化座 bga63封装IC 测试座数据恢复工具 BGA63测试座

本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片
适配尺寸10.5mm*13.5mm\9mm*11mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BG...
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: DDR3-0.8 78pin老化插座球形引脚间距0.8mm DDR DIMM DRAM，用于DDR厂商测试DDR NAND芯片

老化座材料：PEI;
额定电流：1A
接触电阻：30m oh MAX.at 10mA和20mV MAX ...
测试寿命：15000次
引脚间距：0.8mm
工作温度：-55?175度
部件号：DDR3-0.8 78pin老...
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: 客制BGA52-0.5(5*6)合金顶窗探针测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA52脚，间距0.5，尺寸5*6mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证;
可按需定制合金下压、...
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: BGA115-0.8（12X18）下压探针老化座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；本款老化座，适配BGA115脚，间距0.8，尺寸12*18mm的芯片；接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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: BGA97-0.8（9X9mm）下压探针老化座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；本款老化座，适配BGA97脚，间距0.8，尺寸9*9mm的芯片；接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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: BGA153翻盖旋钮合金测试座

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: BGA96-0.8(9.5X11mm)下压探针老化座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA87脚，间距0.8，尺寸7*10mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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: BGA87-0.8（7×10）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA87脚，间距0.8，尺寸7*10mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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: BGA80-0.8（7×9）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA80脚，间距0.8，尺寸7*9mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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: BGA68-0.8（8×12）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA68脚，间距0.8，尺寸8*12mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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: BGA64-1.0（10×13）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA64脚，间距1.0，尺寸10*13mm的芯片；
接触稳定，测试寿命长，品质保证！
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