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新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管 测试座_PDFN芯片老化座详细信息/Detailed Information

新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管 测试座_PDFN芯片老化座

该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
适用于PDFN、DFN、TO等封装大电流大功率芯片、MOS管
常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试
使用环境温度最高可达到200℃≤85HR@3000小时
订购热线:13631538587
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MOS大功率管测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。

DFN封装测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mΩ;
⑧环境温度:-55℃~175℃;
⑨机械寿命:100000;


工厂介绍

鸿怡电子生产的该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片老化测试用, 适用于电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试,包含汽车EMC芯片老化测试、汽车气压控制芯片老化测试、汽车DSP控制器芯片老化测试、汽车液位检测设备芯片老化测试、汽车ECU芯片老化测试、压力传感器芯片老化测试、汽车ASC芯片老化测试

新能源汽车芯片测试座

车规级汽车芯片测试座

汽车芯片老化座

汽车芯片老化测试座


采购:新能源汽车车规芯片DFN封装MOS场效应管\大功率管 测试座_PDFN芯片老化座

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