您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座,终身技术支持保修
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » 老化测试座 » QFN老化座 » 新能源汽车车规芯片QFN老化测试座_芯片老化座

新能源汽车车规芯片QFN老化测试座_芯片老化座详细信息/Detailed Information

新能源汽车车规芯片QFN老化测试座_芯片老化座

该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片老化测试用, 适用于电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老化测试
订购热线:13631538587
立即咨询

新能源汽车EMC芯片老化测试座

新能源汽车ECU芯片老化测试座

压力传感器老化测试座

车规芯片压力老化测试座

车规芯片QFN封装测试座

采购:新能源汽车车规芯片QFN老化测试座_芯片老化座

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

屏幕测试治具_摄像头测试微针模组整体
屏幕测试治具_摄像头测试微针模组整体
适用产品类型: ZIF,BTB connector公母头,PCB,FPC 适用pitch:0.35mm,0.4mm 连续压接成功率: 99.5% 适用寿命: 300000次 弹片阻抗: <50mΩ 弹片过流能力: 1~3A 使用温度: -55°C~+175°C
定制烧录测试座 QFN28测试夹具 QFN28老化测试座 QFN28烧录座0.4
定制烧录测试座 QFN28测试夹具 QFN28老化测试座 QFN28烧录座0.4
型号: QFN28-0.4
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 烧录,编程,老化,测试
封装方式: QFN
引脚间距: 0.4mm
总尺寸 (含引脚): 4x4x1mm
主体尺寸: 4x4x1mm
引脚数: 28个
测试座类型: 顶窗按压式
QFN64-0.5翻盖弹片IC测试座
QFN64-0.5翻盖弹片IC测试座
产品用途:编程座、测试座,对QFN64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN64-0.5
测 试 座:QFN64-0.5烧录座
特 点:底部引出引脚为不规则排列

相关资讯

鸿怡产品中心Products

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳华强北中电B座三楼3010C