- [行业资讯]了解下关于半导体芯片的FT测试环节2019年03月14日 18:03
- 半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。 今天介绍一下芯片测试的最后一个环节FT测试。鸿怡电子可提供用于FT测试的各类测试socket.以及ATE测试座等。 FT（final test）是对封装好的Chip进行Device应用方面的测试，把坏的chip挑出来，FT pass后还会进行process qual和prod
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- [行业资讯]ePOP NAND flash测试socket即将来临2018年12月03日 17:46
- 鸿怡电子适用于ePOP芯片的IC老化座、测试socket即将来临。智能手表等智能可穿戴设备由于空间狭小，对组件的面积和高度有着严格的限制。 ePOP内存芯片的出现无疑是雪中送炭。ePoP 是一款高度集成的 JEDEC 标准组件，在一个小巧的封装内整合了 eMMC 和 LPDRAM。ePoP 直接安装到兼容主机 CPU 的上部，这可以有效节省电路板空间，并确保最佳性能，得益于内存邻近主机 CPU。它非常适合可穿戴设备等空间非常受限的系统。 中国著名的嵌入式存储器供应商Weiwe
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- [鸿怡动态]鸿怡电子-国内高品质的IC测试座生产定制厂家2018年10月25日 15:43
- 现阶段的中国IC产业崛起速度如雨后春笋，相关配套产业链也逐步变得强大和完善。 拿一个在IC产业链上微小但又不可缺少的环节——IC测试socket举例，Socket是IC测试时经常要用到的治具，主要功能是实现IC引脚和测试PCB或者loadboard的电气性能连接。 在IC设计、封测、制造行业内的人都知道，原来的IC测试socket领域基本被美国的TI、WELLS和日本的yamaichi、3M、ENPLAS等企业垄断，价格高昂，拿非常普通的flash芯片
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- [鸿怡动态]鸿怡电子IC老化测试座的特点？2018年09月19日 18:00
- 鸿怡电子可提供各类IC的老化测试socket，可用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，配老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选的连接之用。
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- [鸿怡动态]IC测试治具在探针的选择上要考虑哪些重要因素？2018年09月14日 17:42
- 探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色，因此在定制IC测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么，当客户在咨询定制IC测试治具时，我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。
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- [行业资讯]芯片测试设备行业的现状和发展趋势2018年06月29日 09:25
- 深圳鸿怡电子有限公司18年来坚持以创新研发生产各封装芯片测试socket为已任，努力为中国的半导体封测事业添砖加瓦。
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